WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2001074243) AIMANT SUPRACONDUCTEUR ET APPAREIL D'IMAGERIE PAR RESONANCE MAGNETIQUE QUI COMPREND LEDIT AIMANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/074243    N° de la demande internationale :    PCT/JP2001/002879
Date de publication : 11.10.2001 Date de dépôt international : 03.04.2001
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    03.04.2001    
CIB :
A61B 5/055 (2006.01), G01R 33/38 (2006.01), G01R 33/3815 (2006.01), H01F 6/06 (2006.01)
Déposants : HITACHI MEDICAL CORPORATION [JP/JP]; 1-1-14, Uchikanda Chiyoda-ku, Tokyo 101-0047 (JP) (Tous Sauf US).
WADAYAMA, Yoshihide [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KAKUGAWA, Shigeru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
AZUMA, Katsunori [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKESHIMA, Hirotaka [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SAKAKIBARA, Kenji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HONMEI, Takao [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : WADAYAMA, Yoshihide; (JP).
KAKUGAWA, Shigeru; (JP).
AZUMA, Katsunori; (JP).
TAKESHIMA, Hirotaka; (JP).
SAKAKIBARA, Kenji; (JP).
HONMEI, Takao; (JP)
Mandataire : YOSHIOKA, Kohji; KN Building 7-22-27, Nishishinjuku Shinjuku-ku Tokyo 160-0023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2000-101095 03.04.2000 JP
Titre (EN) SUPERCONDUCTING MAGNET AND MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS COMPRISING IT
(FR) AIMANT SUPRACONDUCTEUR ET APPAREIL D'IMAGERIE PAR RESONANCE MAGNETIQUE QUI COMPREND LEDIT AIMANT
Abrégé : front page image
(EN)Magnetostatic field generating sources (1A, 1B) having superconducting coils (9) disposed oppositely on both sides of a magnetic resonance image pickup region (2) are supported fixedly by a coil support (10) contained in cooling containers (3A, 3B). The coil support (10) is supported by two posts (4A, 4B) disposed eccentrically with respect to the center O of static magnetic field through two beams (11A, 11B) having one end coupled with the end part of the posts (4A, 4B) and the other ends coupled each other at a position (hereinafter, referred to S axis) close to the central acting point of magnet load. The beams (11A, 11B) are also coupled with the coil support (10) and the posts (4A, 4B) are contained in a cooling container (5). Since a cross-section having geometrical moment of inertia increasing toward the S axis is employed and the S axis is positioned closer to the central axis 8 of the magnetic field than an internally dividing point (22), high rigidity is ensured against the load moment of magnet while enhancing openness and accessibility of specimen.
(FR)Des sources (1A, 1B) produisant un champ magnétique et dotées de bobines (9) supraconductrices placées de manière opposée sur deux côtés d'une région (2) de saisie d'image par résonance magnétique sont supportées à demeure par une bobine de support (10) contenue dans des boîtiers de refroidissement (3A, 3B). La bobine de support (10) est soutenue par deux montants (4A, 4B) placés excentriquement par rapport au centre O du champ magnétique statique, deux bras (11A, 11B) possédant chacun une de leurs extrémités couplée à la partie terminale des montants (4A, 4B) et l'autre de leur extrémités couplées ensemble en un point (ci-après appelé S) proche du point d'action centrale de la charge magnétique. Les bras (11A, 11B) sont également couplés à la bobine de support (10) et les montants (4A, 4B) sont contenus dans un boîtier de refroidissement (5). Le fait qu'une section transversale ayant un moment d'inertie géométrique qui augmente vers l'axe S est employée et que l'axe S est placé plus près de l'axe central (8) du champ magnétique qu'un point de division interne (22) permet d'obtenir une rigidité élevée par rapport au moment de charge de l'aimant. En outre, l'ouverture et l'accessibilité de l'échantillon sont améliorées.
États désignés : JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)