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PATENTSCOPE

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1. (WO2001073405) DISPOSITIF SYMETRIQUE D'ANALYSES OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2001/073405 N° de la demande internationale : PCT/US2001/008848
Date de publication : 04.10.2001 Date de dépôt international : 20.03.2001
CIB :
G01N 21/25 (2006.01) ,G01N 21/86 (2006.01)
Déposants : HUTCHISON, James, S.[US/US]; US (UsOnly)
RIEDEL, Richard, A.[US/US]; US (UsOnly)
UMM ELECTRONICS, INC.[US/US]; 6911 Hillsdale Court Indianapolis, IN 46250, US (AllExceptUS)
Inventeurs : HUTCHISON, James, S.; US
RIEDEL, Richard, A.; US
Mandataire : BRANNON, C., John ; Woodard, Emhardt, Naughton, Moriarty & McNett Bank One Center/Tower Suite 3700 111 Monument Circle Indianapolis, IN 46204, US
Données relatives à la priorité :
09/534,76124.03.2000US
Titre (EN) SYMMETRIC OPTICAL ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF SYMETRIQUE D'ANALYSES OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN) A method and apparatus for performing optical analyses. One form of the present invention is an optical assembly (20) including a bank (22) of collimated visible-spectrum LEDs (24) shining onto an optical specimen through rectangular slits (30) and also including an optical detector (70) adapated to detect the light returned by the specimen. The optical specimen thereby is imaged as a series of overlapping rectangles (71). In one form, the optical analysis device (20) is controlled by a microprocessor capable of coordinating the optical analyses of the optical samples, calculating data points, and organizing and storing the data for later retrieval and including a user interface having a display function and a data input function.
(FR) L'invention concerne un procédé et un appareil permettant d'effectuer des analyses optiques. Selon un mode de réalisation, ledit appareil est constitué d'un ensemble optique (20) comprenant un banc (22) de diodes électroluminescentes (24) collimatées à spectre visible éclairant un spécimen optique à travers des fentes rectangulaires (30), et un détecteur optique (70) conçu de façon à détecter la lumière renvoyée par ledit spécimen. Le spécimen optique reçoit des images sous forme de séries de rectangles de superposition (71). Selon un autre mode de réalisation, le dispositif d'analyse optique (20) est commandé au moyen d'un microprocesseur capable de coordonner les analyses optiques des échantillons optiques, de calculer des points de données, et d'organiser et de stocker lesdites données pour les extraire ultérieurement, et comprenant une interface utilisateur possédant une fonction d'affichage et une fonction d'entrée de données.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)