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1. (WO2001022504) DISPOSITIF ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/022504    N° de la demande internationale :    PCT/EP2000/009201
Date de publication : 29.03.2001 Date de dépôt international : 20.09.2000
CIB :
G01R 31/26 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventeurs : HUIBERTS, Johannes, N.; (NL).
MOURIER, Loic, C., A.; (NL).
VAN DE WEIJER, Peter; (NL).
LIEDENBAUM, Coen, T., H., F.; (NL).
VAN DELDEN, Martinus, H., W., M.; (NL)
Mandataire : BAELE, Ingrid, A., F., M.; Internationaal Octrooibureau B.V., Prof Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
99203103.9 22.09.1999 EP
Titre (EN) ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The invention provides a tool to select reliable organic LED devices, where the risk for failure before the end of its lifetime is low. This tool comprises the steps of: i) subjecting the device to a high electric field over the electroluminescent layer. This leads to a division of the devices into two, clearly separated, populations, namely one population with a low leakage current (current through the electroluminescent layer in reverse voltage operation) and one population with a high leakage current. In this step, the first population is selected in accordance with a current criterion; ii) detecting instabilities in the leakage current, referred to as noise. It has been established that these instabilities arise in particular at reverse driving voltages between 1 and 10 Volts. These instabilities are a measure of the occurrence of early failures during operation. In this step, the devices are selected in accordance with a noise criterion.
(FR)L'invention porte sur un procédé servant à sélectionner des dispositifs DEL organiques fiables qui présentent un risque peu élevé de panne avant la fin de leur durée de vie. Selon l'invention, le procédé consiste à: i)soumettre le dispositif à un champ électrique élevé sur la couche électroluminescente, ce qui permet de séparer les dispositifs en deux populations clairement distinctes, à savoir une population caractérisée par un faible courant de fuite (courant à travers la couche électroluminescente lorsque la tension est inversée) et une population caractérisée par un courant de fuite élevé. Pour cette étape, la première population est sélectionnée selon un critère de courant. ii) détecter des instabilités, appelées bruits, dans la fuite de courant. Il a été établi que ces instabilités apparaissent surtout à des tensions d'alimentation inverses comprises entre 1 et 10 Volts. Ces instabilités sont un indice de la survenue de pannes précoces en cours de fonctionnement. Au cours de cette étape, les dispositifs sont sélectionnés en fonction d'un critère de bruit.
États désignés : JP, KR.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)