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1. (WO2001022467) APPAREIL D'ELIMINATION D'IONS DANS UN SYSTEME DE TOMOGRAPHIE A BALAYAGE PAR FAISCEAU D'ELECTRONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/022467    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/025964
Date de publication : 29.03.2001 Date de dépôt international : 21.09.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    19.04.2001    
CIB :
A61B 6/03 (2006.01), G21K 1/08 (2006.01), H01J 35/02 (2006.01)
Déposants : IMATRON, INC. [US/US]; 389 Oyster Point Boulevard, South San Francisco, CA 94080 (US)
Inventeurs : RAND, Roy, E.; (US).
GAREWAL, Khem; (US).
HEILMAN, James, F.; (US)
Mandataire : TEST, Aldo, J.; Flehr, Hohbach, Test, Albritton & Herbert LLP, 4 Embarcadero Center, Suite 3400, San Francisco, CA 94111-4187 (US)
Données relatives à la priorité :
09/399,910 21.09.1999 US
Titre (EN) APPARATUS FOR CLEARING IONS IN A COMPUTED TOMOGRAPHIC SYSTEM
(FR) APPAREIL D'ELIMINATION D'IONS DANS UN SYSTEME DE TOMOGRAPHIE A BALAYAGE PAR FAISCEAU D'ELECTRONS
Abrégé : front page image
(EN)In a scanning electron beam CT system, a postive ion clearing electrode system is disposed within the CT system solenoid coil, and is operated from a single power source. Mounted coaxially about the electron beam, preferably the electrode system (110) includes three sections, each having two electrode elements, one element (V1) being coupled to about -800 V to about -2 KV and the other element being grounded (V2). Within the electrode system, the ratio between element diameter and electron beam diameter is substantially constant. Preferably elements are helically twisted about the beam axis (28). The electrode configuration cancels net quadrupole (focusing) and octopole (aberration-producing) fields. In the presence of electric discharge, essentially zero electron beam displacement and deflections occur, and changes in focusing remain zero.
(FR)Dans un système de tomographie à balayage par faisceau d'électrons, on a monté dans les solénoïdes du système un système (110) d'élimination des ions positifs alimenté par une unique source de courant. Ledit système comporte, montées coaxialement autour du faisceau d'électrons, trois sections de chacune deux électrodes dont l'une (V1)est reliée à une source d'environ -800 V à environ -2 KV, et l'autre (V2) à la masse. Dans le système d'électrodes le rapport entre le diamètre des électrodes et celui du faisceau d'électrons est sensiblement constant. Lesdites électrodes sont de préférence enroulées en hélice autour de l'axe (28) du faisceau. La configuration des électrodes annule l'effet des champs des quadripôles (focalisation) et des octupôles (générateurs d'aberrations). En présence de décharges électriques, les déplacements du faisceau d'électrons sont sensiblement nuls et les variations de la focalisation, nulles.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)