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1. (WO2001022455) CONTACTS A DOUBLE ARETE TRANSVERSALE POUR COMMUTATEURS A FAIBLE ENERGIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/022455    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/026173
Date de publication : 29.03.2001 Date de dépôt international : 22.09.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    23.04.2001    
CIB :
H01H 1/14 (2006.01), H01H 9/40 (2006.01)
Déposants : HONEYWELL INC. [US/US]; 101 Columbia Avenue, P.O. Box 2245, Morristown, NJ 07960 (US)
Inventeurs : DAWSON, Arthur, Wayne; (US)
Mandataire : HOIRIIS, David; Honeywell Inc., 101 Columbia Avenue, P.O. Box 2245, Morristown, NJ 07960 (US)
Données relatives à la priorité :
09/405,193 24.09.1999 US
Titre (EN) DUAL CROSS EDGE CONTACTS FOR LOW ENERGY SWITCHES
(FR) CONTACTS A DOUBLE ARETE TRANSVERSALE POUR COMMUTATEURS A FAIBLE ENERGIE
Abrégé : front page image
(EN)A low energy switch contact design uses a flat spring moveable contact with contact portions made from the sides of the spring bent ninety degrees from the main spring body so as to make point contact with a stationary contact edge located either above or below the moveable contact. The springs is preferably bifurcated for redundancy of contact.
(FR)L'invention concerne un système de contact pour commutateurs à faible énergie. Ledit système utilise un contact à ressort plat mobile comprenant des parties de contact formées par les côtés du ressort pliés à quatre-vingt dix degrés par rapport au corps principal du ressort de façon à constituer un point de contact avec une arête de contact fixe située soit au-dessus ou soit au-dessous du contact mobile. Le ressort est, de préférence, bifurqué pour la redondance de contact.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)