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1. (WO2001022103) AUTO-TEST INTEGRE DE MESURE DE FREQUENCE A BASE DE CHARGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/022103    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/026368
Date de publication : 29.03.2001 Date de dépôt international : 25.09.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    21.03.2001    
CIB :
G01R 31/30 (2006.01), G01R 31/317 (2006.01), H03L 7/089 (2006.01), H03L 7/18 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITY OF WASHINGTON [US/US]; 1107 N.E. 45th Street, Seattle, WA 98105 (US)
Inventeurs : KIM, Seongwon; (US).
SOMA, Mani; (US)
Mandataire : DOUGHTY, Susan, K.; Greenlee, Winner and Sullivan, P.C., Suite 201, 5370 Manhattan Circle, Boulder, CO 80303 (US)
Données relatives à la priorité :
60/155,634 23.09.1999 US
Titre (EN) CHARGE-BASED FREQUENCY MEASUREMENT BIST
(FR) AUTO-TEST INTEGRE DE MESURE DE FREQUENCE A BASE DE CHARGE
Abrégé : front page image
(EN)A charge-based frequency measurement BIST (CF-BIST) for clock circuits and oscillator circuits is described that requires no outside test stimulus and produces a digital test output. The CF-BIST technique performs structural and defect-oriented testing and uses existing blocks to save die area. The technique adds a multiplexer to the non-sensitive digital path. The system uses the existing VCO as the measuring device and divide-by-N as a frequency counter to reduce the area overhead. The described technique produces an efficient pass/fail evaluation, low-cost and practical implementation of on-chip BIST structure.
(FR)L'invention concerne un auto-test intégré de mesure de fréquence à base de charge destiné à des circuits d'horloge et à des circuits oscillants ne nécessitant pas de stimulus test externe et produisant une sortie test numérique. La technique d'auto-test intégré de mesure de fréquence à base de charge effectue des test structurels et par défaut et utilise les blocs existants pour sauvegarder les zones de document erroné. Cette technique ajoute un multiplexeur au conduit numérique non sensible. Ce système utilise un oscillateur à fréquence commandée comme dispositif de mesure et un diviseur par N comme compteur de fréquence pour réduire la zone surchargée. La technique ici décrite produit une évaluation réussite/échec efficace, et une mise en oeuvre pratique et à faible coût de structures d'auto-test intégré de mesure de fréquence à base de charge sur la puce.
États désignés : CA.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)