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1. (WO2001022066) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA DETERMINATION D'UN ECART DE PHASE DANS UN DETECTEUR DE DUREE DE VIE DE FLUORESCENCE, SANS UTILISATION DES NORMES RELATIVES A LA DUREE DE VIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/022066    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/025996
Date de publication : 29.03.2001 Date de dépôt international : 22.09.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    03.04.2001    
CIB :
G01N 21/64 (2006.01)
Déposants : UMM ELECTRONICS, INC. [US/US]; 6911 Hillsdale Court, Indianapolis, IN 46250 (US) (Tous Sauf US).
RIEDEL, Richard [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : RIEDEL, Richard; (US)
Mandataire : COLE, Troy, J.; Woodard, Emhardt, Naughton, Moriarty & McNett, Bank One Center/Tower, Suite 3700, 111 Monument Circle, Indianapolis, IN 46204 (US)
Données relatives à la priorité :
60/155,932 24.09.1999 US
09/506,819 18.02.2000 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR THE DETERMINATION OF PHASE DELAY IN A LIFETIME FLUOROMETER WITHOUT THE USE OF LIFETIME STANDARDS
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA DETERMINATION D'UN ECART DE PHASE DANS UN DETECTEUR DE DUREE DE VIE DE FLUORESCENCE, SANS UTILISATION DES NORMES RELATIVES A LA DUREE DE VIE
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus for measuring the fluorescent lifetime (10) of an unknown fluorescent sample (12), such as a biological liquid, without the requirement of manual intervention or a separate reference standard. An energetic light beam having its low energy component filtered out is shined on the sample (12). An optical detector (30) is positioned such that the intensity of the components of the light beam reflected from the sample (12) reaching the detector (30) is substantially minimized but light remitted and/or fluoresced by the sample (12) does reach the detector (30) with non-trivial intensity. A low-pass filter (28) is placed between the sample (12) and the detector (30) to isolate the high-energy remitted light component coming from the sample (12) and having the same phase as the original energetic beam used to stimulate fluorescence, and a high-pass filter (28) is placed between the sample (12) and the detector (30) to isolate the lower-energy fluoresced light component coming from the sample (12). The phases of each component are then measured and compared to determine the phase shift of the light fluoresced by the sample (12), and the phase shift data is used to calculate the fluorescent lifetime (10) of the sample (12).
(FR)L'invention concerne un dispositif permettant de mesurer la durée de vie de fluorescence (10) pour un échantillon fluorescent inconnu (12), du type fluide biologique, sans intervention manuelle et sans utilisation de norme de référence séparée. Un faisceau d'énergie lumineuse dont la composante à faible énergie est éliminée par filtrage est dirigée sur l'échantillon (12). Un détecteur optique (30) est placé de manière à réduire sensiblement au minimum l'intensité des composantes du faisceau lumineux réfléchi par l'échantillon (12) qui parviennent au détecteur (30), mais la lumière renvoyée et/ou émise par fluorescence depuis l'échantillon (12) parvient elle au détecteur (30) avec une intensité non négligeable. Un filtre passe-bas (28) est placé entre l'échantillon (12) et le détecteur (30) pour isoler la composante de lumière à haute énergie renvoyée par l'échantillon (12) dont la phase est la même que celle du faisceau énergétique d'origine utilisé pour stimuler la fluorescence, et un filtre passe-haut (28) est placé entre l'échantillon (12) et le détecteur (30) pour isoler la composante fluorescente à plus faible énergie renvoyée par l'échantillon (12). Ensuite, on mesure et on compare les phases des composantes respectives pour déterminer l'écart de phase de la composante fluorescente renvoyée par l'échantillon (12). Enfin, les données relatives à cet écart de phase permettent d'évaluer la durée de vie de fluorescence (10) de l'échantillon (12).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)