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1. (WO2001020784) CIRCUIT INTEGRE MULTI-HORLOGE AVEC GENERATEUR D'HORLOGE ET DISPOSITION BIDIRECTIONNELLE DE BROCHES D'HORLOGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/020784    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/025485
Date de publication : 22.03.2001 Date de dépôt international : 15.09.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.04.2001    
CIB :
G06F 1/08 (2006.01), G06F 1/10 (2006.01), H03K 19/173 (2006.01)
Déposants : THOMSON LICENSING S.A. [FR/FR]; 46, Quai A. Le Gallo, F-92648 Boulogne Cedex (FR) (Tous Sauf US).
ALBEAN, David, Lawrence [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : ALBEAN, David, Lawrence; (US)
Mandataire : TRIPOLI, Joseph, S.; Thomson Multimedia Licencing Inc., P.O. Box 5312, Princeton, NJ 08540 (US)
Données relatives à la priorité :
60/154,098 15.09.1999 US
Titre (EN) MULTI-CLOCK INTEGRATED CIRCUIT WITH CLOCK GENERATOR AND BI-DIRECTIONAL CLOCK PIN ARRANGEMENT
(FR) CIRCUIT INTEGRE MULTI-HORLOGE AVEC GENERATEUR D'HORLOGE ET DISPOSITION BIDIRECTIONNELLE DE BROCHES D'HORLOGE
Abrégé : front page image
(EN)A multiple clock IC has a single, bi-directional clock I/O pin for each internally generated clock signal, with the functionality of each bi-directional clock I/O pin controllable to allow various modes of operation. Mode control of the clock I/O pins and associated circuitry/logic is preferably achieved via control signals supplied to I?2¿C registers via an I?2¿C bus/protocol system. The present invention allows for a normal mode of operation of the clocks, a debugging mode of operation for observation of the internal IC clocks, and/or a test mode of operation to drive the internal IC clock from the pin through the respective bi-directional I/O pin. The present invention is useful for both digital testing of the IC (when precise control over the test clock phase and timing is important) and for debugging. All of the modes of the IC clock signals are independently controllable.
(FR)L'invention concerne un circuit intégré multi-horloge possédant une seule broche d'entrée/sortie d'horloge bidirectionnelle pour chaque signal d'horloge généré intérieurement, la fonctionnalité de chaque broche d'entrée/sortie d'horloge bidirectionnelle étant commandée pour permettre plusieurs modes de fonctionnement. On réalise de préférence la commande de mode des broches d'entrée/sortie de l'horloge et des circuits/logique associés au moyen de signaux de commande fournis à des registres I?2¿C via un système bus/protocole I?2¿C. La présente invention permet un mode de fonctionnement normal des horloges, un mode de fonctionnement de mise au point destiné à l'observation des horloges internes de circuit intégré, et/ou un mode de fonctionnement test pour commander l'horloge interne de circuit intégré depuis la broche jusqu'à la broche d'entrée/sortie bidirectionnelle correspondante. La présente invention est utile aussi bien pour l'essai numérique du circuit intégré, lorsqu'une commande précise de la phase et de la temporisation de l'horloge test est importante, que pour la mise au point. Tous les modes des signaux de l'horloge de circuit intégré peuvent être commandés de manière indépendante.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)