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1. (WO2001019273) DISPOSITIF ET PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME DE REPERAGE STEREOTAXIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/019273    N° de la demande internationale :    PCT/IL2000/000567
Date de publication : 22.03.2001 Date de dépôt international : 14.09.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    05.04.2001    
CIB :
A61B 17/00 (2006.01), A61B 19/00 (2006.01)
Déposants : MEDEYE MEDICAL TECHNOLOGY LTD. [IL/IL]; P.O Box 73, 10550 Migdal Haemek (IL) (Tous Sauf US).
AMIR, Avner [IL/IL]; (IL) (US Seulement).
STUDNITZKI, Alexander [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : AMIR, Avner; (IL).
STUDNITZKI, Alexander; (IL)
Mandataire : REINHOLD COHN AND PARTNERS; P.O. Box 4060, 61040 Tel Aviv (IL)
Données relatives à la priorité :
09/395,569 14.09.1999 US
Titre (EN) DEVICE AND METHOD FOR CALIBRATION OF A STEREOTACTIC LOCALIZATION SYSTEM
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME DE REPERAGE STEREOTAXIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A device for use in obtaining one or more calibration parameters of an array of two-dimensional sensors used in stereotactic localization of objects in a workspace. The device comprises a target array and a positioner capable of positioning the target array at a desired location in the workspace.
(FR)L'invention concerne un dispositif permettant d'obtenir un ou plusieurs paramètres d'étalonnage d'une matrice de capteurs bidimentionnels utilisés pour le repérage stéréotaxique d'objets dans un espace de travail. Le dispositif comprend une matrice cible et un positionneur permettant de positionner la matrice cible à un emplacement désiré dans l'espace de travail.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)