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1. (WO2001019241) PROCEDES ET SYSTEMES D'ETALONNAGE POUR SPECTROSCOPIE ET TOMOGRAPHIE OPTIQUE EN LUMIERE DIFFUSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/019241    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/025467
Date de publication : 22.03.2001 Date de dépôt international : 15.09.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    17.04.2001    
CIB :
A61B 5/00 (2006.01), G01N 21/49 (2006.01)
Déposants : THE GENERAL HOSPITAL CORPORATION [US/US]; 55 Fruit Street, Boston, MA 02114 (US) (Tous Sauf US).
BOAS, David, Alan [US/US]; (US) (US Seulement).
CHENG, Xuefeng [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BOAS, David, Alan; (US).
CHENG, Xuefeng; (US)
Mandataire : FASSE, J., Peter; Fish & Richardson P.C., 225 Franklin Street, Boston, MA 02110-2804 (US)
Données relatives à la priorité :
60/154,423 17.09.1999 US
Titre (EN) CALIBRATION METHODS AND SYSTEMS FOR DIFFUSE OPTICAL TOMOGRAPHY AND SPECTROSCOPY
(FR) PROCEDES ET SYSTEMES D'ETALONNAGE POUR SPECTROSCOPIE ET TOMOGRAPHIE OPTIQUE EN LUMIERE DIFFUSE
Abrégé : front page image
(EN)The invention features a calibration method for diffuse optical measurements that corrects transmittance measurements between a source and a detector for factors unrelated to sample properties. The calibration method is based on the same set of transmittance measurements that are subsequently corrected by the calibration and used in imaging and/or spectroscopy applications. The calibration method involves a forward calculation for each of multiple source-detector pairs based on an approximate model of the sample (310), and a minimization of an expression (330) that depends on the forward calculations and the transmittance measurements to determine self-consistent coupling coefficients for every source-detector pair. Once the coupling coefficients have been determined (360), they can be used to correct the transmittance measurements. If desired, an inverse calculation (370) can be performed on the corrected sample measurements to determine spatial variations in the optical properties of the sample. If necessary, the calibrat tion can be repeated (380) and iteratively improved, whereby the optical properties determined by the inverse calculation (370) in an earlier iteration are used to improve the sample model for the forward calculation in a subsequent iteration.
(FR)La présente invention concerne un procédé d'étalonnage de mesures optiques en lumière diffuse qui permet de corriger les mesures de transmittance entre une source et un détecteur concernant des facteurs qui ne sont pas liés aux propriétés de l'échantillon. Ce procédé d'étalonnage est fondé sur le même ensemble de mesures de transmittance subséquemment corrigées par l'étalonnage et utilisées dans des applications de spectroscopie et/ou d'imagerie. Ce procédé d'étalonnage suppose un calcul depuis l'origine pour chacune des multiples paires de détecteurs source fondé sur un modèle lissé de l'échantillon (310), et la minimisation d'une expression (330) qui dépend desdits calculs et des mesures de transmittance de façon à déterminer un coefficient de couplage cohérent pour chaque paire de détecteurs source. Lorsque ces coefficients de couplage ont été déterminés (360), ils peuvent être utilisés pour corriger les mesures de transmittance. On peut effectuer un calcul inverse (370), si on le souhaite, sur les mesures corrigées de l'échantillon de façon à déterminer des variations spatiales dans les propriétés optiques de l'échantillon. Le cas échéant, on peut répéter (380) et améliorer cet étalonnage par itérations, les propriétés optiques déterminées par un calcul inverse (370) dans une itération précédente étant utilisées pour améliorer le modèle de l'échantillon en vue d'un calcul depuis l'origine dans une itération suivante.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)