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1. (WO2001017428) DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RESONANCE MAGNETIQUE ET PROCEDE ASSOCIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/017428    N° de la demande internationale :    PCT/JP2000/006154
Date de publication : 15.03.2001 Date de dépôt international : 08.09.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    09.04.2001    
CIB :
G01R 33/565 (2006.01)
Déposants : HITACHI MEDICAL CORPORATION [JP/JP]; 1-1-14, Uchikanda, Chiyoda-ku, Tokyo 100-0047 (JP) (Tous Sauf US).
KOMURA, Kazumi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKAHASHI, Tetsuhiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KOMURA, Kazumi; (JP).
TAKAHASHI, Tetsuhiko; (JP)
Données relatives à la priorité :
11/255848 09.09.1999 JP
2000/89698 28.03.2000 JP
Titre (EN) MAGNETIC RESONANCE IMAGING DEVICE AND METHOD THEREFOR
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RESONANCE MAGNETIQUE ET PROCEDE ASSOCIE
Abrégé : front page image
(EN)Variations in space phase distribution due to static magnetic field changes are corrected based on phase variations at points, specifically, at three points or a plurality of points selected by ROI, in an area where no temperature change is encountered, and a temperature distribution image is determined by using a space phase distribution reflecting only temperature changes after the correction, thereby providing high-accuracy temperature distribution image information.
(FR)Les changements de distribution de phase dans l'espace, dus aux changements de champ magnétique statique, sont corrigés en fonction des changements de phase en certains points, spécifiquement en trois points ou en plusieurs points sélectionnés par région d'intérêt, dans une zone dans laquelle aucun changement de température ne survient. Une image de répartition de températures est déterminée au moyen de la répartition de phase dans l'espace ne reflétant que les changements de température après la correction, une information relative à l'image de répartition de températures très précise étant ainsi obtenue.
États désignés : US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)