WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2001015289) PROCEDE ET SYSTEME DE MAXIMISATION DE LA PUISSANCE LASER INOFFENSIVE DE PROJECTEURS DE LUMIERE LASER STRUCTUREE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/015289    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/021765
Date de publication : 01.03.2001 Date de dépôt international : 09.08.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    22.02.2001    
CIB :
H01S 3/00 (2006.01)
Déposants : PERCEPTRON, INC. [US/US]; 47827 Halyard Drive, Plymouth, MI 48170 (US) (Tous Sauf US).
CAMILLERI, Joseph [US/US]; (US) (US Seulement).
KELLY, David, L. [US/US]; (US) (US Seulement).
WARREN, Mark, R. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CAMILLERI, Joseph; (US).
KELLY, David, L.; (US).
WARREN, Mark, R.; (US)
Mandataire : STEVENSON, Joseph, L.; Harness, Dickey & Pierce, P.L.C., P.O. Box 828, Bloomfield Hills, MI 48303 (US)
Données relatives à la priorité :
60/147,913 09.08.1999 US
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR MAXIMIZING SAFE LASER POWER OF STRUCTURED LASER LIGHT PROJECTORS
(FR) PROCEDE ET SYSTEME DE MAXIMISATION DE LA PUISSANCE LASER INOFFENSIVE DE PROJECTEURS DE LUMIERE LASER STRUCTUREE
Abrégé : front page image
(EN)A system and method for controlling the operating parameters of a laser diode (20) is provided. The laser control system (10) automatically optimizes the laser diode (20) operating characteristics while maintaining a safe peak power for pulse duration and pulse repetition frequency (PRF). The controlled level of output power is based on the laser diode gain determined during calibration of each laser diode projector as well as using the application of predetermined laser safety formulas. The laser control system (10) includes a laser diode (20) that is powered by a laser drive current. The laser diode (20) has a laser output having a peak power level. A detector (28) is coupled to the laser diode (20) for sensing the laser output. A laser driver (18) including a primary control loop (44) is operable, in response to the sensed laser output and a reference (43) to control the laser drive current such that the output power corresponds to the reference (43). A controller (52) is coupled to the laser driver (18).
(FR)La présente invention concerne un système et un procédé de commande des paramètres d'exploitation d'une diode laser (20). Ce système de commande laser (10) optimise de manière automatique les caractéristiques d'exploitation de la diode laser (20), tout en maintenant une puissance de crête inoffensive pour la durée d'impulsion et la fréquence de répétition des impulsions (PRF). Le niveau régulé de la puissance de sortie est basé sur le gain de diode laser déterminé au cours de l'étalonnage de chaque projecteur à diode laser, ainsi que sur l'application des formules de sécurité laser prédéterminées. Le système de commande laser (10) comprend une diode laser (20) alimentée par un courant d'attaque laser. La diode laser (20) comporte une sortie laser présentant un niveau de puissance de crête. Un détecteur (28) est couplé à la diode laser (20) pour détecter la sortie laser. Un circuit d'attaque laser (18) comportant une boucle de commande primaire (44) peut être exploité, en réponse à la sortie laser détectée et à une référence (43), pour réguler le courant d'attaque laser de sorte que la puissance de sortie corresponde à la référence (43). Un dispositif de commande (52) est couplé au circuit d'attaque laser (18).
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)