WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2001014836) SYSTEME DE LENTILLES F-SIN ($G(u)) ET LEUR PROCEDE D'UTILISATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/014836    N° de la demande internationale :    PCT/CA2000/000957
Date de publication : 01.03.2001 Date de dépôt international : 21.08.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    19.03.2001    
CIB :
G01J 3/02 (2006.01), G01J 3/28 (2006.01), G02B 13/00 (2006.01)
Déposants : INSTITUT NATIONAL D'OPTIQUE [CA/CA]; 369 Franquet Street, Sainte-Foy, Quebec G1P 4N8 (CA) (Tous Sauf US).
THIBAULT, Simon [CA/CA]; (CA) (US Seulement)
Inventeurs : THIBAULT, Simon; (CA)
Mandataire : SOFIA, Michel; Swabey Ogilvy Renault, Suite 1600, 1981 McGill College Avenue, Montreal, Quebec H3A 2Y3 (CA)
Données relatives à la priorité :
2,280,531 19.08.1999 CA
Titre (EN) F-SIN ($g(u)) LENS SYSTEM AND METHOD OF USE OF SAME
(FR) SYSTEME DE LENTILLES F-SIN ($G(u)) ET LEUR PROCEDE D'UTILISATION
Abrégé : front page image
(EN)An optical system (S) for focusing an incident light so as to obtain a linear output (as a function of the wavelength, or of the order of diffraction, or of the grating spacial frequency or of the inverse of the index of refraction) comprises a diffraction grating (G) and a lens (L), or a group of lenses (L', L''), having a f-Sin ($g(u)) characteristics, where f is the effective focal length of the lens (L), or group of lenses (L', L''), and $g(u) is an output angle of the light exiting from the diffraction grating (G). Therefore, a light incident on the diffraction grating (G) reaches the lens (L), or the group of lenses (L', L''), and results in a linear output. Using the present invention in a spectrometer reduces the time consuming calibration process required and renders it easier because of the linear output between wavelength and pixels positions. The lens (L), or group of lenses (L', L''), has a diffractive, refractive or reflective property, or any combination thereof. The incident light can be a collimated, converging or diverging beam. The diffraction grating can be a plane, concave or convex grating (G).
(FR)L'invention porte sur un système optique (S) de focalisation d'une lumière incidente permettant d'obtenir une sortie (fonction de la longueur d'onde, ou de l'ordre de diffraction, ou de la fréquence spatiale de réseau, ou de l'inverse de l'indice de réfraction). Ledit système comprend un réseau de diffraction (G) et une lentille (L) ou un groupe de lentilles (L', L''), présentant des caractéristiques f-Sin ($g(u)) où f est la distance focale effective de la lentille (L) ou du groupe de lentilles (L', L''), et Sin ($g(u)) est l'angle de sortie de la lumière sortant du réseau de diffraction (G). Ainsi, la lumière frappant le réseau de diffraction (G) et atteignant la lentille (L) ou le groupe de lentilles (L', L'') constitue une sortie linéaire. L'emploi de ladite invention dans un spectromètre raccourcit le long processus d'étalonnage nécessaire et le facilite en raison de la sortie linéaire entre la longueur d'onde et les pixels. La lentille (L), ou le groupe de lentilles (L', L'') présente une propriété diffractrice, réfractrice ou réflectrice ou leur combinaison. La lumière incidente peut être un faisceau collimaté, convergeant ou divergeant, et le réseau de diffraction (G) peut être plan, concave ou convexe.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)