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1. (WO2001011655) PROCEDES ET APPAREIL DE MONTAGE D'UNE UNITE DE DETECTION DE RAYONS X SUR UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/011655    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/021917
Date de publication : 15.02.2001 Date de dépôt international : 10.08.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    05.03.2001    
CIB :
H01J 37/244 (2006.01)
Déposants : EDAX, INC. [US/US]; 1209 Orange Street, Wilmington, DE 19800 (US).
GALLAGHER, Brian, William [US/US]; (US).
VIDINSKY, Branimir [US/US]; (US)
Inventeurs : GALLAGHER, Brian, William; (US).
VIDINSKY, Branimir; (US)
Mandataire : BEULICK, John, S.; Armstrong Teasdale LLP, Suite 2600, One Metropolitan Square, St. Louis, MO 63102-2740 (US)
Données relatives à la priorité :
09/371,545 10.08.1999 US
Titre (EN) METHODS AND APPARATUS FOR MOUNTING AN X-RAY DETECTING UNIT TO AN ELECTRON MICROSCOPE
(FR) PROCEDES ET APPAREIL DE MONTAGE D'UNE UNITE DE DETECTION DE RAYONS X SUR UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A mounting system (10) includes a port cover (12), a mounting interface, and a damping system. The port cover (12) is attached to a microscope (16) and secures the mounting interface to the microscope. The mounting interface provides a mounting surface (30) for an X-ray detector unit to attach to the microscope (16) and a surface (32) to which the damping system is attached. The damping system includes a plurality of collects (100), a collet clamp (20), and damping material (92). The damping system secures the X-ray detector unit to the microscope (16) while damping vibrations caused by the detector unit.
(FR)L'invention concerne un système (10) de montage comprenant un couvercle (12) d'ouverture, une interface de montage et un système amortisseur. Le couvercle (12) d'ouverture, fixé à un microscope (16), assure la fixation de l'interface de montage audit microscope. Ladite interface présente une surface (30) de montage qui permet de fixer au microscope (16) une unité de détection de rayons X, ainsi qu'une surface (32) à laquelle est fixé le système amortisseur. Ce dernier comporte plusieurs collets (100), un élément de serrage (20) de collets et un matériau amortisseur (92). Le système amortisseur permet de fixer l'unité de détection de rayons X au microscope tout en amortissant les vibrations produites par ladite unité de détection.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)