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1. (WO2001011377) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER INDIVIDUELLEMENT L'ETAT DE VIEILLISSEMENT D'UN CONDENSATEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/011377    N° de la demande internationale :    PCT/FR2000/002215
Date de publication : 15.02.2001 Date de dépôt international : 02.08.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    28.02.2001    
CIB :
G01R 27/26 (2006.01), G01R 31/01 (2006.01), G01R 31/40 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITE CLAUDE BERNARD LYON I [FR/FR]; 43, boulevard du 11 Novembre 1918, F-69622 Villeurbanne Cedex (FR) (Tous Sauf US).
VENET, Pascal [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
PERISSE, Frédéric [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
GRELLET, Guy [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
ROJAT, Gérard [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : VENET, Pascal; (FR).
PERISSE, Frédéric; (FR).
GRELLET, Guy; (FR).
ROJAT, Gérard; (FR)
Mandataire : THIBAULT, Jean-Marc; Cabinet Beau de Loménie, 51, avenue Jean Jaurès, Boîte postale 7073, F-69301 Lyon Cedex 07 (FR)
Données relatives à la priorité :
99/10292 04.08.1999 FR
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR INDIVIDUALLY DETERMINING THE AGEING CONDITION OF A CAPACITOR
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER INDIVIDUELLEMENT L'ETAT DE VIEILLISSEMENT D'UN CONDENSATEUR
Abrégé : front page image
(EN)The invention concerns a device for determining the ageing condition of a capacitor (2) comprising: means (4) for determining ripple voltage; means (5) for determining the current flowing in the capacitor, means for determining the value of the equivalent series resistance of the operating conditions of the capacitor (2) by calculating the measured ratio of the ripple voltage values over the measured current, means for measuring (9) the capacitor temperature (2), means (11) for determining the measured temperature, and using a law providing variations of the equivalent series resistance based on the temperature, the value of the so-called theoretical equivalent series resistance corresponding to a capacitor in good working condition, and means (12) for comparing the value of the equivalent resistance series of the operating conditions with the value of the theoretical equivalent resistance series enabling to determine the ageing condition of the capacitor.
(FR)L'invention concerne un dispositif pour déterminer l'état de vieillissement d'un condensateur (2) comportant: un moyen (4) de détermination de l'ondulation de tension; un moyen (5) de détermination du courant circulant dans le condensateur; des moyens (7) de détermination de la valeur de la résistance équivalente série de fonctionnement du condensateur en effectuant le rapport des valeurs de l'ondulation de tension mesuré sur le courant mesuré; un moyen de mesure (9) de la température du condensateur (2); des moyens (11) de détermination pour la température mesurée, et à l'aide d'une loi donnant les variations de la résistance équivalente série en fonction de la température, la valeur de la résistance équivalente série dite théorique correspondant à un condensateur non défaillant; et des moyens (12) de comparaison de la valeur de la résistance équivalente série de fonctionnement avec la valeur de la résistance équivalente série théorique permettant de déterminer l'état de vieillissement du condensateur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)