WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2001011338) APPAREIL DE CARACTERISATION DE PARTICULES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/011338    N° de la demande internationale :    PCT/EP2000/007537
Date de publication : 15.02.2001 Date de dépôt international : 03.08.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    23.02.2001    
CIB :
G01N 15/12 (2006.01)
Déposants : LARSEN, Ulrik, Darling [DK/DK]; (DK)
Inventeurs : LARSEN, Ulrik, Darling; (DK)
Mandataire : HOIBERG APS; Store Kongensgade 59B, DK-1264 Copenhagen K (DK)
Données relatives à la priorité :
1999 01108 06.08.1999 DK
Titre (EN) PARTICLE CHARACTERISATION APPARATUS
(FR) APPAREIL DE CARACTERISATION DE PARTICULES
Abrégé : front page image
(EN)Particle characterisation apparatus working on the Coulter principle is provided with a count wafer formed by micro-machining of silicon so that the count wafer can economically be incorporated in a disposable housing (10) adapted to contain and retain for disposal liquid pumped through the count wafer during particle characterisation operations. The housing may incorporate electrodes (38) (4) in each of two chambers (22, 24) separated by a wall (20) containing an orifice (36) formed in the count wafer.
(FR)L'invention concerne un appareil de caractérisation de particules fonctionnant selon le principe de Coulter. Cet appareil est pourvu d'une plaquette de comptage formée par micro-usinage d'une tranche de silicium. Cette plaquette peut être incorporée, de manière économique, dans un boîtier jetable (10) adapté pour contenir et retenir le liquide pompé à travers la plaquette de comptage lors des opérations de caractérisation des particules. Ce boîtier peut comprendre des électrodes (38)(4) dans chacune des deux chambres (22)(24). Ces dernières sont séparées par une paroi (20) dans laquelle est ménagé un orifice (36) formé dans la plaquette de comptage.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)