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1. (WO2001007925) SYSTEME DE CHRONOMETRAGE A FAIBLE COUT DESTINE A L'ESSAI MULTIMODAL HAUTEMENT PRECIS DE SEMI-CONDUCTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/007925    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/018432
Date de publication : 01.02.2001 Date de dépôt international : 05.07.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    21.02.2001    
CIB :
G01R 31/319 (2006.01), G01R 31/3193 (2006.01)
Déposants : TERADYNE, INC. [US/US]; 321 Harrison Avenue, Boston, MA 02118 (US)
Inventeurs : REICHERT, Peter; (US)
Mandataire : WALSH, Edmund, J.; Teradyne, Inc., 321 Harrison Avenue, Boston, MA 02118 (US)
Données relatives à la priorité :
09/360,215 23.07.1999 US
Titre (EN) LOW COST TIMING SYSTEM FOR HIGHLY ACCURATE MULTI-MODAL SEMICONDUCTOR TESTING
(FR) SYSTEME DE CHRONOMETRAGE A FAIBLE COUT DESTINE A L'ESSAI MULTIMODAL HAUTEMENT PRECIS DE SEMI-CONDUCTEURS
Abrégé : front page image
(EN)A timing system is disclosed that responds to pattern generation circuitry or producing test patterns for application to a device-under-test. The timing system includes a timing memory circuit that stores programmed edge timings for the patterns and couples to timing logic including a master oscillator and a plurality of fixed edge generators. The fixed edge generators are responsive to the programmed edge timings to produce the event timing signals.
(FR)L'invention concerne un système de chronométrage répondant à un circuit de production de motifs ou produisant des motifs d'essai destinés à être appliqués à un dispositif en cours d'essai. Le système de chronométrage comprend un circuit de mémoire de chronométrage mémorisant des chronométrages de bords programmés pour les motifs et se couplant à une logique de chronométrage comprenant un oscillateur maître ainsi qu'une pluralité de générateurs de bords fixes. Les générateurs de bords fixes répondent au chronométrage de bords programmés pour produire les signaux de chronométrage d'événements.
États désignés : JP, KR, SG.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)