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1. (WO2001007875) TRANSDUCTEUR A EFFET CORIOLIS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/007875    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/040416
Date de publication : 01.02.2001 Date de dépôt international : 18.07.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    06.02.2001    
CIB :
G01C 19/5719 (2012.01), G01C 25/00 (2006.01), G01F 1/84 (2006.01), G01F 25/00 (2006.01)
Déposants : ANALOG DEVICES, INC. [US/US]; One Technology Way, Norwood, MA 02062-9106 (US)
Inventeurs : GEEN, John, Albert; (US)
Mandataire : CONNORS, Matthew, E.; Samuels, Gauthier & Stevens, LLP, 225 Franklin Street, Suite 3300, Boston, MA 02110-2804 (US).
HAMMOND Andrew; Göteborgs Patentbyra Dahls, Sjöporten 4, S-417 64 Göteborg, Sweden (SE)
Données relatives à la priorité :
09/359,477 22.07.1999 US
Titre (EN) CORIOLIS EFFECT TRANSDUCER
(FR) TRANSDUCTEUR A EFFET CORIOLIS
Abrégé : front page image
(EN)A method for testing a Coriolis transducer (10) having a mass (14) adapted to vibrate along a vibratory direction, here axis (21), in a resonant structure (47) and undergo a displacement along a sensitive axis (27) perpendicular to the vibration, in response to an angular rate about a mutually perpendicular rate sensing axis (25). In the absence of an angular rate forces are applied on the mass along the direction of vibration and along the sensitive axis, in a predetermined ratio, N. The output of the transducer is measured in response thereto. With such method, a knowm test input angular rate is simulated. Thus the proportionality constant K can be calculated without expensive rate table testing. Further, because the test can be performed with a transducer prior to packaging, electronics integrally formed on the same semiconductor wafer of the mechanical transduction structure can be easily trimmed to provide a desired proportionality constant K.
(FR)L'invention concerne un transducteur Coriolis (10) renfermant une masse (14) conçue de façon à vibrer dans une structure résonnante (47), le long d'un axe de propagation (21), dans le sens vibratoire, et à se déplacer le long d'un axe d'amplitude (27) perpendiculaire à ladite vibration, en réponse à une vitesse angulaire considérée par rapport à un axe de détection (25) de vitesse, ledit déplacement étant perpendiculaire à la fois à la vibration et à l'axe de détection de vitesse. En l'absence de vitesse angulaire, on applique des forces sur la masse dans le sens vibratoire, et le long de l'axe d'amplitude, selon un rapport prédéterminé N, et on mesure la sortie du transducteur en réponse à ces forces. Dans ce procédé, on simule un test connu de vitesse angulaire en entrée. On peut, ainsi, calculer la constante de proportionnalité K sans avoir recours à un test de table de vitesse coûteux. En outre, du fait que le test peut s'exécuter au moyen d'un transducteur avant l'encapsulation, les composants électroniques formés d'une seule pièce sur la même tranche de semi-conducteur de la structure mécanique de transduction peuvent facilement s'ajuster, de façon à obtenir une constante de proportionnalité K.
États désignés : JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)