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1. WO2001006370 - ENSEMBLE ELECTRONIQUE D'AUTO-TEST ET SYSTEME DE CONTROLE

Numéro de publication WO/2001/006370
Date de publication 25.01.2001
N° de la demande internationale PCT/US2000/018955
Date du dépôt international 12.07.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 15.12.2000
CIB
G06F 1/00 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
1Détails non couverts par les groupes G06F3/-G06F13/89
G06F 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
G06F 11/22 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
G06F 11/267 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
26Tests fonctionnels
267Reconfiguration pour les tests, p.ex. LSSD, découpage
G06F 11/273 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
26Tests fonctionnels
273Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G06F 11/006
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
006Identification
G06F 11/2236
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
2205using arrangements specific to the hardware being tested
2236to test CPU or processors
G06F 11/2268
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
2268Logging of test results
G06F 11/2294
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
2294by remote test
G06F 11/2635
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
26Functional testing
263Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers
2635using a storage for the test inputs, e.g. test ROM, script files
Déposants
  • TIVO, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • BARTON, James, M.
  • TAHMASSEBI, Shahin
  • PLATT, David
Mandataires
  • GLENN, Michael, A.
Données relatives à la priorité
09/357,18319.07.1999US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SELF-TEST ELECTRONIC ASSEMBLY AND TEST SYSTEM
(FR) ENSEMBLE ELECTRONIQUE D'AUTO-TEST ET SYSTEME DE CONTROLE
Abrégé
(EN)
A self-test electronic assembly performs self-testing, such as diagnostic or run-in testing of components and circuits, based upon internally stored test procedures. The results of self-testing are stored internally to the device, providing valuable information regarding the self-test electronic assembly, both during the manufacturing process, and preferably for ongoing in-situ operation. A test system is preferably linked to one or more self-test electronic assemblies, and provides loopback circuitry for each installed self-test electronic assembly, whereby the self-test electronic assemblies can further test components, circuitry, and security encoding and decoding operation. The preferred test rack also provides efficient and consistent monitoring and quality control over the self-testing of self-test electronic assemblies. During in-situ operation, the self-test electronic assemblies preferably monitor operating parameters, and continue to periodically perform self-testing, while storing the information within the device, and preferably transmitting the information to an external location.
(FR)
Dans cette invention, un ensemble d'auto-test effectue des opérations d'auto-test, notamment le diagnostic ou le test, de composants et de circuits en rodage, sur la base de procédures de test enregistrées. Les résultats de l'auto-test sont mémorisés dans une mémoire interne du dispositif, et fournissent des informations utiles concernant l'ensemble électronique d'auto-test, à la fois lors du processus de fabrication, et de préférence au cours du fonctionnement in situ. Un système de test est de préférence relié à un ou plusieurs ensembles électroniques d'auto-test, celui-ci fournissant des circuits en boucle pour chaque ensemble électronique d'auto-test monté, ces ensembles électronique d'auto-test pouvant également tester des composants, des circuits, et les opérations de codage et de décodage de sécurité. L'armoire d'essai préférée permet également d'effectuer une surveillance et un contrôle de qualité efficaces et cohérents de l'auto-test des ensembles électroniques d'auto-test. Au cours du fonctionnement in situ, les ensembles électroniques d'auto-test surveillent de préférence les paramètres de fonctionnement, et continuent d'effectuer périodiquement l'auto-test, tout en mémorisant les informations dans le dispositif, et de préférence, tout en transmettant ces informations à un endroit externe.
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