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1. (WO2001003157) SYSTEME ET PROCEDE SERVANT A INSPECTER ET/OU MODIFIER UN OBJET
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/003157    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/018041
Date de publication : 11.01.2001 Date de dépôt international : 30.06.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    10.01.2001    
CIB :
B82B 3/00 (2006.01), G01Q 20/02 (2010.01), G01Q 70/02 (2010.01), G01Q 80/00 (2010.01), H01J 37/26 (2006.01), H01L 21/00 (2006.01)
Déposants : GENERAL NANOTECHNOLOGY, LLC [US/US]; 1119 Park Hill Road, Berkeley, CA 94708 (US) (Tous Sauf US).
KLEY, Victor, B. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : KLEY, Victor, B.; (US)
Mandataire : SLONE, David, N.; Townsend and Townsend and Crew LLP, Two Embarcadero Center, 8th Floor, San Francisco, CA 94111-3834 (US)
Données relatives à la priorité :
60/142,178 01.07.1999 US
Titre (EN) OBJECT INSPECTION AND/OR MODIFICATION SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTEME ET PROCEDE SERVANT A INSPECTER ET/OU MODIFIER UN OBJET
Abrégé : front page image
(EN)A scanning probe microscope system (100) includes an objective lens (147), a clamping circuit (404), a tip deflection measurement circuit (421), a cantilever (136), and a probe (137) for modifying and inspecting an object (102) disposed on a stage (129).
(FR)Système (100) basé sur un microscope à sonde de balayage comprenant une lentille d'objectif (147), un circuit de calage (404), un circuit (421) servant à mesurer la déviation d'une pointe, un porte-à-faux (136) et une sonde (137), ce qui permet de modifier et d'inspecter un objet (102) placé sur une platine.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)