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1. (WO2001001121) ANALYSE PLURIMODALE DE STRUCTURES MICROMECANIQUES DESTINEE A LA DETECTION D'APPLICATIONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2001/001121    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/017379
Date de publication : 04.01.2001 Date de dépôt international : 23.06.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    26.01.2001    
CIB :
G01N 27/00 (2006.01)
Déposants : UT-BATTELLE, LLC [US/US]; P.O. Box 2008, M-6498, Oak Ridge, TN 37831 (US)
Inventeurs : ODEN, Patrick, Ian; (US).
BRITTON, Charles, L., Jr.; (US).
SMITH, Stephen, F.; (US).
WARMACK, Robert, J.; (US)
Mandataire : HARDAWAY, John, B., III; Nexen Pruet Jacobs & Pollard, LLP, P.O. Box 10107-Federal Station, Greenville, SC 29603 (US)
Données relatives à la priorité :
09/342,602 29.06.1999 US
Titre (EN) MULTI-MODAL ANALYSIS OF MICROMECHANICAL STRUCTURES FOR SENSING APPLICATIONS
(FR) ANALYSE PLURIMODALE DE STRUCTURES MICROMECANIQUES DESTINEE A LA DETECTION D'APPLICATIONS
Abrégé : front page image
(EN)A device and method for determining concentrations of species in an environment using a mechanical resonator. The method employs one or more microcantilever structures where several mechanical mode resonances are determined for the structure during the measurement and used to determine environmental changes around the device or measure alterations in fundamental dimensions or material properties of the structure/material overlayer deposited on the structure.
(FR)L'invention concerne un dispositif et un procédé permettant de déterminer les concentrations d'espèces dans un environnement au moyen d'un résonateur mécanique. Le procédé repose sur l'utilisation d'au moins une structure en porte-à-faux dans lesquelles plusieurs résonances en mode mécanique sont déterminées pour la structure au cours des mesures, et utilisées pour déterminer les modifications de l'environnement autour du dispositif, ou pour mesurer les modifications des dimensions fondamentales ou les propriétés matérielles de la structure/de la couche supérieure de matière déposée sur la structure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)