WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2000057160) INSPECTION DE MATIERE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/057160    N° de la demande internationale :    PCT/IB2000/000301
Date de publication : 28.09.2000 Date de dépôt international : 20.03.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    09.10.2000    
CIB :
B07C 5/342 (2006.01), G01N 21/25 (2006.01), G01N 21/47 (2006.01), G01N 21/89 (2006.01)
Déposants : TIEDEMANNS-JOH. H. ANDRESEN ANS, trading as TITE CH AUTOSORT [NO/NO]; Joh. H. Andresen Vei 5, N-0655 Oslo 6 (NO) (Tous Sauf US).
ULRICHSEN, Børre, Bengt [NO/NO]; (NO) (US Seulement).
TSCHUDI, Jon, Henrik [NO/NO]; (NO) (US Seulement).
JOHANSEN, Ib-Rune [NO/NO]; (NO) (US Seulement)
Inventeurs : ULRICHSEN, Børre, Bengt; (NO).
TSCHUDI, Jon, Henrik; (NO).
JOHANSEN, Ib-Rune; (NO)
Représentant
commun :
ULRICHSEN, Børre, Bengt; Holmenkollveien 33B, N-0376 Oslo (NO)
Données relatives à la priorité :
9906326.5 19.03.1999 GB
9922140.0 20.09.1999 GB
Titre (EN) INSPECTION OF MATTER
(FR) INSPECTION DE MATIERE
Abrégé : front page image
(EN)Apparatus for automatically inspecting a stream of matter comprises lamps (38) which emit a detection medium, such as IR or visible light, to be active at the matter, a rotary polygonal mirror (19) which receives from a multiplicity of detection zones Z at the matter detection medium which has been varied by variations in the matter, an optional detection device (22) which receives the varied medium by reflection from the mirror (19), to detect a plurality of wavelengths of the varied medium substantially simultaneously, and to generate detection data in respect of that plurality of wavelengths substantially simultaneously and in dependence upon the variations in the medium, and a microprocessor (26) which obtains the detection data from the device (22). The beams B of the varied medium which are received at the device (22) and emanate from the zones Z travel along respective paths from the matter to the mirror (19) which paths converge continuously with respect to each other from the matter to the mirror (19). Those paths may extend to the mirror (19) indirectly by way of at least one planar mirror (80), or directly to the mirror (19), in which latter case the axis of the mirror (19) would be substantially parallel to the direction D of advance of the matter.
(FR)L'invention se rapporte à un appareil permettant l'inspection automatique d'un flux de matière. Ledit appareil comporte des lampes (38) qui émettent un milieu de détection, tel qu'un rayonnement IR ou visible, qui puisse être actif sur la matière; un miroir polygonal rotatif (19) qui reçoit un rayonnement d'une pluralité de zones de détection Z au niveau du milieu de détection de la matière qui a été modifié du fait des variations dans la matière; un dispositif de détection optique (22) qui reçoit le milieu modifié par réflexion sur le miroir (19) et qui peut ainsi détecter une pluralité de longueurs d'onde dudit milieu de manière sensiblement simultanée et générer des données de détection en rapport avec cette pluralité de longueurs d'ondes de manière sensiblement simultanée et indépendamment des variations dans le milieu; et un microprocesseur (26) qui reçoit les données de détection en provenance dudit dispositif (22). Les faisceaux B du milieu modifié, qui sont reçus par le dispositif (22) et proviennent des zones Z, se propagent le long de chemins respectifs, de la matière vers le miroir (19), lesdits chemins convergeant de manière continue les uns par rapport aux autres, de la matière vers le miroir (19). Ces chemins peuvent se prolonger jusqu'au miroir (19), soit indirectement par le biais d'au moins un miroir plan (80), soit directement, auquel cas l'axe du miroir (19) doit être sensiblement parallèle à la direction D de progression de la matière.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)