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1. (WO2000057146) SYSTEME ET PROCEDE D'ETALONNAGE POUR SPECTROPHOTROMETRE D'IMAGERIE PAR REFLEXION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/057146    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/006587
Date de publication : 28.09.2000 Date de dépôt international : 15.03.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    18.10.2000    
CIB :
G01J 3/00 (2006.01), G01J 3/28 (2006.01)
Déposants : CYTOMETRICS, INC. [US/US]; 17th Floor, 615 Chestnut Street, One Independence Mall, Philadelphia, PA 19106 (US)
Inventeurs : COOK, Christopher, A.; (US).
GRONER, Warren; (US).
NADEAU, Richard, G.; (US)
Mandataire : KESSLER, Edward, J.; Sterne, Kessler, Goldstein & Fox P.L.L.C., Suite 600, 1100 New York Avenue, N.W., Washington, DC 20005-3934 (US)
Données relatives à la priorité :
09/271,993 19.03.1999 US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING A REFLECTION IMAGING SPECTROPHOTOMETER
(FR) SYSTEME ET PROCEDE D'ETALONNAGE POUR SPECTROPHOTROMETRE D'IMAGERIE PAR REFLEXION
Abrégé : front page image
(EN)The invention comprises a system and method of calibrating a reflected spectral imaging apparatus used for analysis of living tissue. In addition to the reflected spectral imaging apparatus itself, the calibration apparatus comprises an optical filter that is placed between the light source used in the imaging apparatus and the object under analysis, and a calibration module. The filter is fabricated such that when the light is passed through the filter, an image is projected onto the focal plane where imaging is to take place within the object. The image projected by the filter comprises a plurality of areas, each having a different known optical density. For each area, the calibration module measures the intensity of the light reflected from the area and maps the light intensity measurement to the optical density known to be present at the area. This correspondence of light intensity measurements and known optical densities is then used to calibrate the reflected spectral imaging apparatus.
(FR)L'invention porte sur un système et un procédé d'étalonnage d'un appareil d'imagerie spectrale par réflexion utilisé pour analyser des tissus vivants. Le dispositif d'étalonnage comprend également un filtre optique placé entre la source lumineuse utilisée dans l'appareil d'imagerie et l'objet en analyse et un module d'étalonnage. Le filtre est conçu de sorte que, lorsque la lumière traverse le filtre, une image est projetée sur le plan focal où doit se faire la représentation d'image dans l'objet. L'image projetée par le filtre comprend une pluralité de surfaces, chacune d'une densité optique différente connue. Pour chaque surface, le module d'étalonnage mesure l'intensité de lumière renvoyée par la surface et fait correspondre la mesure d'intensité de lumière à la densité optique connue devant être présente au niveau de la surface. Cette correspondance des mesures d'intensité de lumière et des densités optiques connues est ensuite utilisée pour étalonner l'appareil d'imagerie spectrale par réflexion.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)