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1. (WO2000055799) SYSTEME ET PROCEDE PERMETTANT DE SELECTIONNER UN DE DE REFERENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/055799    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/006979
Date de publication : 21.09.2000 Date de dépôt international : 17.03.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    17.10.2000    
CIB :
G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : SEMICONDUCTOR TECHNOLOGIES & INSTRUMENTS, INC. [US/US]; 2701 E. President George Bush Highway, Plano, TX 75074 (US)
Inventeurs : GUEST, Clyde, Maxwell; (US).
ROY, Rajiv; (US).
HARRIS, Charles, Kenneth; (US)
Mandataire : ROURK, Christopher, J.; Akin, Gump, Strauss, Hauer & Feld, L.L.P., Suite 4100, 1700 Pacific Avenue, Dallas, TX 75201-4675 (US)
Données relatives à la priorité :
09/270,607 17.03.1999 US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR SELECTION OF A REFERENCE DIE
(FR) SYSTEME ET PROCEDE PERMETTANT DE SELECTIONNER UN DE DE REFERENCE
Abrégé : front page image
(EN)A system for selecting reference die images, such as for use with a visual die inspection system, is provided. The system includes a die image comparator, which compares (514) a first die image (504) to a second die image (510) in order to create a difference image (516) that contains only the difference between the two die images. The system also includes a difference image analysis system that receives data from the die image comparator. The difference image analysis system analyzes the difference image (518) and determines whether there are any features of the difference image (520, 524) that indicate that either the first die image or the second die image should not be used as a reference die image.
(FR)L'invention concerne un système permettant de sélectionner des images de dés dans un système d'inspection visuelle de dés. Ce système comprend un comparateur d'images de dé qui compare (514) une première image de dé (504) à une seconde image de dé (510) de manière à créer une image (516) différentielle qui représente uniquement la différence entre les deux images de dés. Ce système peut comprendre en outre un système d'analyse d'image différentielle qui reçoit des données en provenance du comparateur d'images de dé. Ce système d'analyse d'image différentielle analyse l'image (518) différentielle et détermine si certaines caractéristiques de cette image (520, 524) différentielle indiquent que la première ou la seconde image de dé ne devrait pas être utilisée en tant qu'image de référence.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)