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1. (WO2000055652) ETALONNAGE DE SONDES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/055652    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/006032
Date de publication : 21.09.2000 Date de dépôt international : 08.03.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    11.10.2000    
CIB :
G01D 11/24 (2006.01), G01V 1/047 (2006.01), G01V 1/053 (2006.01), G01V 1/104 (2006.01), G01V 1/18 (2006.01)
Déposants : INPUT/OUTPUT, INC. [US/US]; 12300 Charles E. Selecman Drive, Suite 200, Stafford, TX 77477 (US) (Tous Sauf US).
RAGAN, Glen [US/US]; (US) (US Seulement).
WILSON, David [US/US]; (US) (US Seulement).
GANNON, Jeffrey, C. [US/US]; (US) (US Seulement).
PHAM, Hai, T. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : RAGAN, Glen; (US).
WILSON, David; (US).
GANNON, Jeffrey, C.; (US).
PHAM, Hai, T.; (US)
Mandataire : MADAN, Paul, S.; Madan, Mossman & Sriram, P.C., 2603 Augusta, Suite 700, Houston, TX 77057 (US).
BYNUM, Todd, A.; Madan, Mossman & Sriram, P.C., 2603 Augusta, Suite 700, Houston, TX 77057 (US)
Données relatives à la priorité :
60/125,076 17.03.1999 US
Titre (EN) CALIBRATION OF SENSORS
(FR) ETALONNAGE DE SONDES
Abrégé : front page image
(EN)A plurality of seismic sensors calibration method (100) includes: an assembling so that sensors are coupled with each sensor positioned with its axis of sensitivity in a different spatial direction calibration system step (105), a rotating sensors step (110), a measuring sensors output signals step (115), a sensor output signal processing step (120) and a storing calibration coefficient(s) step (125).
(FR)L'invention porte sur un procédé de calibrage d'un ensemble de sondes sismiques présentant chacune un axe de sensibilité. Ledit procédé consiste: (1) à relier ensemble les sondes chacune ayant son axe de sensibilité orienté dans une direction spatiale différente; (2) à faire pivoter les sondes; (3) à mesurer les signaux de sortie des sondes; (4) à traiter lesdits signaux; et (5) à enregistrer un ou plusieurs coefficients d'étalonnage.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)