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1. (WO2000055639) SPECTROMETRE DE MESURE D'IMPEDANCE PAR TRANSFORMEE DE LAPLACE ET SON PROCEDE DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/055639    N° de la demande internationale :    PCT/KR1999/000815
Date de publication : 21.09.2000 Date de dépôt international : 24.12.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    18.01.2000    
CIB :
G01R 27/02 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : KOREA KUMHO PETROCHEMICAL CO.,LTD. [KR/KR]; 70, Seorin-dong, Chongno-ku Seoul 110-110 (KR)
Inventeurs : YOON, Chul-Oh; (KR).
BARSUKOV, Yevgen; (KR).
KIM, Jong-Hyun; (KR)
Mandataire : KIM, Nung-Kyun; Taekun Building 6th floor 822-5, Yoksam-dong Kangnam-ku Seoul 135-080 (KR)
Données relatives à la priorité :
1999/8460 13.03.1999 KR
Titre (EN) LAPLACE TRANSFORM IMPEDANCE SPECTROMETER AND ITS MEASUREMENT METHOD
(FR) SPECTROMETRE DE MESURE D'IMPEDANCE PAR TRANSFORMEE DE LAPLACE ET SON PROCEDE DE MESURE
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a method of measuring impedance based on carrier function Laplace transform, comprising the steps of: (1) detecting a response signal from an object device to which signal excitation such as pulse, interrupt or constant load is applied; (2) obtaining parameters of a carrier function by linearly or non-linearly fitting the response signal in step (1) to the carrier function allowing an analytical Laplace transform; (3) calculating an impedance function in the Laplace domain by using an analytic relation between the carrier function and the Laplace transfer function calculated from carrier function obtained by the fitting results in step (2); (4) calculating the impedance spectrum in a frequency domain by using the parameters of the Laplace domain impedance function calculated in step (3), and calculating the measurement error of the frequency domain impedance spectrum using the standard deviation of the parameters and its correlation; and (5) displaying the frequency domain impedance spectrum calculated in step (4) and storing the result.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure d'impédance basé sur la transformée de Laplace de fonction de porteuse, qui consiste à: 1) détecter un signal de réponse provenant d'un dispositif objet sur lequel un signal d'excitation, tel qu'une impulsion, une interruption ou une charge constante est appliquée; 2) obtenir les paramètres d'une fonction de porteuses par l'adaptation linéaire ou non linéaire du signal de réponse de l'étape (1) à la fonction de porteuse permettant une transformée de Laplace analytique; (3) calculer une fonction d'impédance dans le domaine de Laplace au moyen d'une relation analytique entre la fonction de porteuse et la fonction de transfert de Laplace calculée à partir de la fonction de porteuse obtenue par l'adaptation des résultats dans l'étape (2); (4) calculer le spectre d'impédance dans un domaine fréquentiel au moyen des paramètres de la fonction d'impédance du domaine de Laplace calculés dans l'étape (3), et calculer l'erreur de mesure du spectre d'impédance du domaine fréquentiel au moyen de l'écart standard des paramètres et sa corrélation; et (5) afficher le spectre d'impédance du domaine fréquentiel calculé dans l'étape (4) et mémoriser le résultat.
États désignés : AU, BG, BR, CA, CN, HU, IL, MX, NO, PL, RU, SG, UA.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)