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1. (WO2000052789) SOURCE LASER ACCORDABLE A SURVEILLANCE INTEGREE DE LA LONGUEUR D'ONDES, ET MODE DE MISE EN OEUVRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/052789    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/005235
Date de publication : 08.09.2000 Date de dépôt international : 29.02.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    20.09.2000    
CIB :
H01S 3/00 (2006.01), H01S 3/10 (2006.01), H01S 5/026 (2006.01), H01S 5/06 (2006.01)
Déposants : THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA [US/US]; 1111 Franklin Street, 5th floor, Oakland, CA 94607 (US) (Tous Sauf US).
COLDREN, Larry [US/US]; (US) (US Seulement).
MASON, Thomas, Gordon, B. [US/US]; (US) (US Seulement).
FISH, Gregory [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : COLDREN, Larry; (US).
MASON, Thomas, Gordon, B.; (US).
FISH, Gregory; (US)
Mandataire : DAWES, Daniel, L.; Myers, Dawes & Andras LLP, 5252 Kenilworth Drive, Huntington Beach, CA 92649 (US)
Données relatives à la priorité :
60/122,194 01.03.1999 US
Titre (EN) A TUNABLE LASER SOURCE WITH AN INTEGRATED WAVELENGTH MONITOR AND METHOD OF OPERATING SAME
(FR) SOURCE LASER ACCORDABLE A SURVEILLANCE INTEGREE DE LA LONGUEUR D'ONDES, ET MODE DE MISE EN OEUVRE
Abrégé : front page image
(EN)IPCavelength monitor is provided based on the transmission response of an optical filter (50). The monitor (52a, 52b) provides feedback to the laser (10) enabling it to lock to any given wavelength within its tuning range. The invention is also a process for integrating the wavelength monitor directly on chip with a variety of tunable semiconductor lasers. The invention also comprises a method for controlling the wavelength of a tunable laser by using a wavelength monitor to measure the output light and provide feedback to a control system (62). The laser and wavelength monitors are integrated together on a single indium phosphide chip. The wavelength monitor comprises a filter (50) with a wavelength dependent transmission function and a pair of detectors (52a, 52b). One detector (52a) is illuminated with light that has passed through the filter and the other provides a reference to measure the input intensity. Taking the ratio of the filtered light level to the unfiltered light provides a wavelength dependent signal. The filter (50) is designed such that the transmission function is monotonic and varies from a minimum at one extent of the laser's tuning range to a maximum at the other extent.
(FR)La présente invention concerne une surveillance de longueur d'ondes reposant sur une réaction à l'émission d'un filtre optique. La surveillance fournit au laser un retour d'information lui permettant de se verrouiller sur n'importe quelle longueur d'ondes à l'intérieur de sa place d'accord. L'invention concerne également un procédé permettant d'intégrer la surveillance de longueur d'ondes directement sur le microcircuit dans le cas de multiples lasers à semi-conducteurs accordables. L'invention concerne en outre un procédé permettant de réguler la longueur d'ondes d'un laser accordable par utilisation d'une surveillance de longueur d'ondes capable de fournir une mesure de la lumière de sortie et de fournir un retour d'information à un système de commande. Le laser et la surveillance de longueur d'ondes sont intégrés ensemble sur un unique microprocesseur au phosphure d'indium. La surveillance de longueur d'ondes est constituée, d'une part d'un filtre dont la fonction d'émission est fonction de la longueur d'ondes, et d'autre part d'une paire de détecteurs. Un détecteur reçoit la lumière qui ressort du filtre, l'autre fournit une référence permettant de mesurer l'intensité d'entrée. Le rapport niveau de lumière filtré sur niveau de lumière non filtrée donne un signal fonction de la longueur d'ondes. Le filtre est conçu de façon que la fonction émissive soit en monotonie, et passe d'un minimum pour une limite de la plage d'accord du laser à un maximum pour l'autre limite.
États désignés : CA, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)