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1. (WO2000052484) SYSTEME DE TEST INDEPENDANT DE L'INTERFACE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/052484    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/005444
Date de publication : 08.09.2000 Date de dépôt international : 03.03.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    27.09.2000    
CIB :
G01R 31/00 (2006.01), G01R 31/27 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G06F 9/455 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : SUN MICROSYSTEMS, INC. [US/US]; 901 San Antonio Road, Palo Alto, CA 94303 (US)
Inventeurs : DEARTH, Glenn, A.; (US).
PLOUFFE, George, R., Jr.; (US).
KAFFINE, David, M.; (US).
ZHENG, Janet, Y.; (US)
Mandataire : KIVLIN, Noel, B.; Conley, Rose & Tayon, P.C., P.O. Box 398, Austin, TX 78767-0398 (US).
HARRIS, Ian Richard; D Young & Co., Briton House, Briton Street, Southampton S014 3EB (GB)
Données relatives à la priorité :
09/262,575 04.03.1999 US
Titre (EN) INTERFACE INDEPENDENT TEST SYSTEM
(FR) SYSTEME DE TEST INDEPENDANT DE L'INTERFACE
Abrégé : front page image
(EN)A system and method for circuitry design verification testing using a structure of interface independent classes to provide for rapid prototyping and design modification while maximizing test code re-use. A circuit simulation subsystem is interfaced with a test subsystem. The test subsystem employs a system transaction class for collecting common routines and pointers to device transactions. One or more configuration transaction classes derived from the system transaction class define transactions between functional models within the simulation subsystem and cause instantiation of the respective functional models. Operations are performed on the functional models via pointers to interface independent transaction classes which define interfaces to the devices. The operations are mapped to the current designs of the functional models by subclasses of the interface independent transaction classes. Changes to the functional model designs necessitate changes to the subclasses, but the interface independent transaction classes maintain a consistent interface and allow the test code to be re-used with minimal changes.
(FR)La présente invention concerne un système et un procédé de test de vérification de dessin de circuits utilisant une structure de classes indépendantes des interfaces pour élaborer et modifier rapidement le dessin et le prototype, tout en maximisant la réutilisation de code de test. Un sous-système de simulation à circuit est en interface avec un sous-système de test. Le sous-système de test utilise une classe de transaction système pour collecter les routines et les pointeurs communs aux transactions de dispositifs. Une ou plusieurs classes de transaction de configuration provenant de la classe de transaction système définit les transactions entre les modèles fonctionnels dans le sous-système de simulation, et provoque l'instanciation des modèles fonctionnels correspondants. Les opérations sont exécutées sur les modèles fonctionnels au moyen de pointeurs, désignant des classes de transaction indépendantes des interfaces qui définissent les interfaces avec les dispositifs. Les opérations sont mises en correspondance avec les états courants des modèles fonctionnels au moyen des sous-classes des classes de transaction indépendantes des interfaces. Les modifications apportées aux conceptions de modèles fonctionnels exigent de changer les sous-classes, cependant, les classes de transaction indépendantes des interfaces entretiennent la cohérence d'interface et permettent la réutilisation du code de test avec un minimum de modification.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)