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1. (WO2000052435) COMMANDE, ETALONNAGE ET UTILISATION D'UN MICROBOLOMETRE A TEMPERATURE AMBIANTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/052435    N° de la demande internationale :    PCT/US2000/005888
Date de publication : 08.09.2000 Date de dépôt international : 06.03.2000
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.10.2000    
CIB :
G01J 5/20 (2006.01)
Déposants : RAYTHEON COMPANY [US/US]; 141 Spring Street, Lexington, MA 02421 (US)
Inventeurs : WAND, Martin, A.; (US).
RACHELS, Kenneth, W.; (US).
BRADY, John, F.; (US).
WEINSTEIN, Michael; (US).
RATCLIFF, David, D.; (US)
Mandataire : MILLS, Jerry, W.; Baker Botts L.L.P., 2001 Ross Avenue, Dallas, TX 75201-2980 (US)
Données relatives à la priorité :
60/123,171 05.03.1999 US
09/283,274 01.04.1999 US
Titre (EN) CONTROL, CALIBRATION, AND OPERATION OF A MICROBOLOMETER ARRAY AT AMBIENT TEMPERATURE
(FR) COMMANDE, ETALONNAGE ET UTILISATION D'UN MICROBOLOMETRE A TEMPERATURE AMBIANTE
Abrégé : front page image
(EN)A method for measuring the temperature of a scene using a detector array with an integrating sampling circuit associated with each pixel. An ambient reference temperature is observed with reference pixels to provide a parameter of that temperature to provide a constant voltage output indicating that temperature by varying the sampling circuit integration time. Each non-reference pixel is exposed to different scene and ambient temperatures and the integration time for each set of data for each pixel is recorded. For each pixel, an equation is created relating integration time to pixel voltage when the ambient temperature and the scene temperature are the same to correct for offsets and an equation is created relating integration time and offset correlated pixel value to the difference between the ambient temperature and the scene temperature when the ambient temperature and scene temperature differ for correction of responsivity.
(FR)L'invention concerne un procédé pour mesurer la température d'une scène au moyen d'un réseau de détecteurs comportant au moins un pixel de référence, un circuit d'étalonnage intégrateur étant associé à chaque pixel. L'observation d'une température ambiante de référence au niveau du pixel de référence permet d'obtenir un paramètre indiquant cette température afin de fournir une tension de sortie constante indiquant cette température par la modification du temps d'intégration du circuit d'échantillonnage. On expose chaque pixel n'étant pas un pixel de référence à une scène différente et l'on enregistre les températures ambiantes et le temps d'intégration pour chaque ensemble de données pour chaque pixel. Pour chaque pixel, une équation est créée qui relie le temps d'intégration à la tension du pixel lorsque la température ambiante et la température de la scène sont identiques, et ce pour compenser les décalages. On crée une équation qui relie le temps d'intégration et la valeur de pixel corrélée au décalage à la différence entre la température ambiante et la température de la scène, la température ambiante et la température de la scène étant différentes à des fins de correction du facteur de réponse.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)