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1. (WO2000018003) PROCEDE ET DISPOSITIF PERMETTANT DE MESURER LA TEMPERATURE DANS UN SEMI-CONDUCTEUR A FONCTIONNEMENT INTERMITTENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/018003    N° de la demande internationale :    PCT/SE1999/001587
Date de publication : 30.03.2000 Date de dépôt international : 10.09.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.04.2000    
CIB :
H03F 1/30 (2006.01), H03F 3/19 (2006.01)
Déposants : TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON (publ) [SE/SE]; S-126 25 Stockholm (SE)
Inventeurs : MOLANDER, Mats, Erik; (SE)
Mandataire : ERICSSON RADIO SYSTEMS AB; Common Patent Dept. S-164 80 Stockholm (SE)
Données relatives à la priorité :
9803178-4 18.09.1998 SE
Titre (EN) A METHOD AND ARRANGEMENT FOR MEASURING TEMPERATURE IN AN INTERMITTENTLY OPERATING SEMICONDUCTOR
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF PERMETTANT DE MESURER LA TEMPERATURE DANS UN SEMI-CONDUCTEUR A FONCTIONNEMENT INTERMITTENT
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a method and to arrangements for measuring temperature in an intermittently operating semiconductor. The method comprises the following steps: establishing that the semiconductor is in an inactive period; connecting a measuring circuit to the semiconductor; measuring a temperature-dependent electric quantity of the semiconductor component; converting the measured quantity to a temperature value that corresponds to the temperature of the semiconductor component.
(FR)L'invention concerne un procédé et des dispositifs qui permettent de mesurer la température dans un semi-conducteur à fonctionnement intermittent. Le procédé comprend les étapes suivantes: on s'assure que le semi-conducteur est en période d'inactivité; on connecte le circuit de mesure au semi-conducteur; on mesure une quantité électrique, dépendante de la température, du composant à semi-conducteur; et on convertit la quantité mesurée en une valeur de température qui correspond à la température dudit composant.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)