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1. (WO2000017753) PROCEDE DE DETECTION DE DEFAILLANCES PARTIELLES DE LA MEMOIRE ET D'ERREURS BINAIRES SIMPLES, DOUBLES ET TRIPLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/017753    N° de la demande internationale :    PCT/US1999/022024
Date de publication : 30.03.2000 Date de dépôt international : 22.09.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    17.04.2000    
CIB :
G06F 11/10 (2006.01)
Déposants : SUN MICROSYSTEMS, INC. [US/US]; 901 San Antonio Road Palo Alto, CA 94303 (US)
Inventeurs : CYPHER, Robert; (US)
Mandataire : KIVLIN, Noel, B.; Conley, Rose & Tayon, P.C. Suite 320 816 Congress Avenue Austin, TX 78701-2443 (US).
HAINES, Miles, John; D. Young & Co. 21 New Fetter Lane London EC4A 1DA (GB)
Données relatives à la priorité :
09/160,213 24.09.1998 US
Titre (EN) TECHNIQUE FOR DETECTING MEMORY PART FAILURES AND SINGLE, DOUBLE, AND TRIPLE BIT ERRORS
(FR) PROCEDE DE DETECTION DE DEFAILLANCES PARTIELLES DE LA MEMOIRE ET D'ERREURS BINAIRES SIMPLES, DOUBLES ET TRIPLES
Abrégé : front page image
(EN)The bits of a data block are logically partitioned into an array that includes a number of columns equal to a number of memory devices and a number of rows equal to a number of bits of the data block stored in each memory device. Each memory device contributes one bit to each row. In one embodiment, the bits from a memory device are stored in the same column position of all the rows. One check bit is associated with each row. The check bit is computed by taking the parity of the row associated with the check bit and zero or one column. Each column is assigned to at least four check bits. If a check bit has a column assigned to it, then the check bit is generated by computing the parity of the associated row and the column assigned to the check bit. Alternatively, if the check bit does not have a column assigned to it, the check bit is generated by computing the parity of the row assigned to the check bit only. Each column is assigned to at least four check bits and is assigned to an even number of check bits.
(FR)Les bits d'un bloc de données sont logiquement répartis dans un tableau qui comprend un certain nombre de colonnes égal à un certain nombre de dispositifs de mémoire et un certain nombre de rangées égal à un certain nombre de bits du bloc de données stocké dans chaque dispositif de mémoire. Chaque dispositif de mémoire fournit un bit à chaque rangée. Selon un mode de réalisation, les bits d'un dispositif de mémoire sont stockés dans le même emplacement de la colonne de l'ensemble des rangées. Un bit de contrôle est associé à chaque rangée. Le bit de contrôle est calculé par la parité de la rangée associée au bit de contrôle et à zéro ou à une colonne. Chaque colonne est attribuée à au moins quatre bits de contrôle. Si un bit de contrôle a une colonne qui lui est attribuée, alors ledit bit est généré par calcul de la parité de la rangée associée et de la colonne attribuée au bit de contrôle. Selon une variante, si le bit de contrôle n'a pas de colonne qui lui est attribuée, ledit bit est généré par calcul de la parité de la rangée attribuée au bit de contrôle uniquement. Chaque colonne est attribuée à au moins quatre bits de contrôle et est attribuée à un nombre pair de bits de contrôle.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)