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1. (WO2000011485) APPAREILLAGE D'ESSAI DE MODULE POUR PORTEUSE DE DONNEES DESTINEE A UNE COMMUNICATION SANS CONTACT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/011485    N° de la demande internationale :    PCT/EP1999/005774
Date de publication : 02.03.2000 Date de dépôt international : 05.08.1999
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/302 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventeurs : MÜHLBERGER, Andreas; (NL).
VORREITER, Johann; (NL)
Mandataire : WEBER, Helmut; Internationaal Octrooibureau B.V. Prof. Holstlaan 6 NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
98890248.2 21.08.1998 EP
Titre (EN) TEST DEVICE FOR TESTING A MODULE FOR A DATA CARRIER INTENDED FOR CONTACTLESS COMMUNICATION
(FR) APPAREILLAGE D'ESSAI DE MODULE POUR PORTEUSE DE DONNEES DESTINEE A UNE COMMUNICATION SANS CONTACT
Abrégé : front page image
(EN)A test device (1) for testing a module (2) for a data carrier intended for contactless communication includes a carrier signal generator (14) which is arranged to generate a carrier signal (CS) whereby a test signal (TS) can be generated, a conductive connection being provided between the carrier signal generator (14) and a module (2) to be tested, which connection includes an impedance (31), preferably being a series resistor (31), which is connected directly ahead of a module terminal (5) of the module (2) to be tested, the test device (1) being provided with at least one detection device (34, 35) for determining an analog characteristic value (C, m) of a module (2) to be tested while utilizing the test signal (TS) appearing on an impedance terminal (32) of the impedance (31).
(FR)Cet appareillage d'essai (1) pour module (2) pour porteuse de données destinée à une communication sans contact comporte un générateur de signal porteur (14) conçu pour produire ledit signal (CS), un signal d'essai (TS) pouvant, de ce fait, être produit. On établit une connexion conductrice entre le générateur de signal porteur (14) et un module (2) à éprouver. Cette connexion a une impédance (31), de préférence une résistance en série (31), directement connectée en amont d'une borne de module (5) du module (2) à éprouver. Cet appareillage d'essai (1) est équipé d'au moins un dispositif de détection (34, 35) permettant de déterminer une valeur propre analogique (C, m) d'un module (2) à éprouver grâce à l'utilisation du signal d'essai (TS) se manifestant sur la borne d'impédance (32) de l'impédance (31).
États désignés : JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)