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1. (WO2000011450) PROCEDE DE MESURE PAR ONDES THERMIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2000/011450    N° de la demande internationale :    PCT/DE1999/002590
Date de publication : 02.03.2000 Date de dépôt international : 18.08.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.03.2000    
CIB :
G01N 21/17 (2006.01)
Déposants : SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, D-80333 München (DE) (Tous Sauf US).
BAUMANN, Joachim [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
MANGOLD, Thomas [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : BAUMANN, Joachim; (DE).
MANGOLD, Thomas; (DE)
Représentant
commun :
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34, D-80506 München (DE)
Données relatives à la priorité :
198 37 889.0 20.08.1998 DE
Titre (DE) THERMOWELLEN-MESSVERFAHREN
(EN) THERMAL-WAVE MEASURING METHOD
(FR) PROCEDE DE MESURE PAR ONDES THERMIQUES
Abrégé : front page image
(DE)Die gleichzeitige Mehrfrequenzanregung mit zwei oder mehreren Einzelfrequenzen einer elektrisch modulierbaren Heizlichtquelle ermöglicht die parallele Auswertung entsprechend der unterschiedlichen Ansteuerfrequenzen. Dadurch wird die Meßzeit bei der Messung von Mehrschichtsystemen wesentlich verkürzt. Durch geeignete Wahl der Einzelfrequenzanteile der Ansteuerfrequenzen können diese an das Meßproblem angepaßt werden.
(EN)According to the present invention, the simultaneous and multiple-frequency excitation, using two or more individual frequencies, of a heating-light source that can be electrically modulated enables a parallel estimation according to the different drive frequencies. It is thus possible to substantially reduce the measuring time when measuring multi-layered systems. The adequate selection of the individual frequency components of the drive frequencies allows for their adaptation according to a given measuring problem.
(FR)L'excitation simultanée à l'aide de deux fréquences individuelles ou plus d'une source de lumière de chauffe à modulation électrique permet l'évaluation parallèle correspondant aux diverses fréquences d'excitation. Cela permet de raccourcir considérablement la durée de mesure de systèmes à plusieurs couches. Le choix approprié des proportions des fréquences individuelles dans les fréquences d'excitation permet d'adapter ces dernières à un problème de mesure donné.
États désignés : JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)