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1. (WO1999054702) SYSTEME ET PROCEDE POUR CONFIGURER ET/OU PARAMETRER UNE UNITE DE DIAGNOSTIC
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/1999/054702 N° de la demande internationale : PCT/DE1999/001112
Date de publication : 28.10.1999 Date de dépôt international : 14.04.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 22.10.1999
CIB :
A61B 5/00 (2006.01) ,G01M 15/00 (2006.01) ,G06F 19/00 (2006.01)
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
5
Mesure servant à établir un diagnostic; Identification des individus
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
15
Essai des moteurs
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
19
Équipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des applications spécifiques
Déposants : HARTMANN, Doris[DE/DE]; DE (UsOnly)
KACEM, Sofiane[TN/DE]; DE (UsOnly)
MAIER, Karl-Heinz[DE/DE]; DE (UsOnly)
MÜLLER, Klaus-Dieter[DE/DE]; DE (UsOnly)
PLEWINSKI, Nicolai[DE/DE]; DE (UsOnly)
VÖLKEL, Thomas[DE/DE]; DE (UsOnly)
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT[DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 D-80333 München, DE (AllExceptUS)
Inventeurs : HARTMANN, Doris; DE
KACEM, Sofiane; DE
MAIER, Karl-Heinz; DE
MÜLLER, Klaus-Dieter; DE
PLEWINSKI, Nicolai; DE
VÖLKEL, Thomas; DE
Représentant
commun :
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34 D-80506 München, DE
Données relatives à la priorité :
198 16 884.517.04.1998DE
198 50 122.630.10.1998DE
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR CONFIGURING AND/OR PARAMETERIZING AN DIAGNOSTIC DEVICE
(FR) SYSTEME ET PROCEDE POUR CONFIGURER ET/OU PARAMETRER UNE UNITE DE DIAGNOSTIC
(DE) SYSTEM UND VERFAHREN ZUR KONFIGURATION UND/ODER PARAMETRIERUNG EINER DIAGNOSEEINRICHTUNG
Abrégé :
(EN) The invention relates to a system (8) and a method for configuring and/or parameterizing a diagnostic device (4) for objects (3) that are to be tested. The system consists of a first data object (1) with a set of technological test object parameters (PK1, PK2 à PKz) of the object to be tested (3) and the components (3a ... 3n) thereof, a second data object (2) with a set of technological parameters (HWType I, HWType II, à) of hardware components of the diagnostic device (4), a first program object (5) with data records (7) for allocating at least test object parameters (PK1, PK2 à PKz) and technological parameters (HWType I, HWType II, à) of hardware components and a second program object (6) for processing the data records (7) allocated in the first program object (5). A knowledge base is established on the basis of the data and program objects that enables automatic configuring and/or parameterization of the diagnostic device, test structure and evaluation included, substantially controlled by the knowledge of the system and that significantly reduces the complexity of such a construction.
(FR) L'invention concerne un système (8) et un procédé pour configurer et/ou paramétrer une unité de diagnostic (4) destinée à des objets à contrôler (3). Ce système comprend un premier objet de données (1) avec un ensemble de paramètres technologiques (PK1, PK2 à PKz) de l'objet à contrôler (3) et de ses composants (3a à 3n). Il comprend également un deuxième objet de données (2) avec un ensemble de paramètres technologiques (HWtype I, HWtype II à) de composants matériels de l'unité de diagnostic (4), ainsi qu'un premier objet de programme (5) avec des ensembles de données (7) pour affecter au moins des paramètres d'objet à contrôler (PK1, PK2àPKz) et des paramètres technologiques (HWtype I, HWtype II à) de composants matériels, et un deuxième objet de programme (6) pour traiter les ensembles de données (7) affectés dans le premier objet de programme (5). Les objets de données et les objets de programme permettent de créer une base de connaissances et d'obtenir ainsi globalement une configuration et/ou un paramétrage, contrôle et évaluation compris, de l'unité de diagnostic commandés automatiquement dans une large mesure par la connaissance du système, et par conséquent de réduire sensiblement la complexité d'une telle élaboration.
(DE) Die Erfindung betrifft ein System (8) sowie ein Verfahren zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung (4) für zu prüfende Objekte (3). Das System besteht aus einem ersten Datenobjekt (1) mit einer Sammlung von technologischen Prüfobjektparametern (PK1, PK2 ... PKz) des zu prüfenden Objektes (3) und dessen Komponenten (3a ... 3n), aus einem zweiten Datenobjekt (2) mit einer Sammlung von technologischen Parametern (HWType I, HWType II, ...) von Hardwarekomponenten der Diagnoseeinrichtung (4), aus einem ersten Programmobjekt (5) mit Datensätzen (7) zur Zuordnung zumindest von Prüfobjektparametern (PK1, PK2 ... PKz) und technologischen Parametern (HWType I, HWType II, ...) von Hardwarekomponenten und aus einem zweiten Programmobjekt (6) zur Verarbeitung der im ersten Programmobjekt (5) zugeordneten Datensätze (7). Durch die Daten- und Programmobjekte wird eine Wissensbasis geschaffen, wodurch sich insgesamt eine vom Wissen des Systems weitestgehend automatisch gesteuerte Konfiguration und/oder Parametrierung der Diagnoseeinrichtung einschließlich Prüfaufbau und Auswertung ergibt und der Aufwand für eine derartige Erstellung wesentlich reduziert wird.
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États désignés : US
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)