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1. (WO1999054136) PROCEDE PERMETTANT DE SELECTIONNER UN SUBSTRAT CONÇU POUR ETRE UTILISE DANS UNE OPERATION DE COUPE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1999/054136    N° de la demande internationale :    PCT/US1999/008132
Date de publication : 28.10.1999 Date de dépôt international : 14.04.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    12.11.1999    
CIB :
G01N 3/24 (2006.01), G01N 19/04 (2006.01)
Déposants : AVERY DENNISON CORPORATION [US/US]; 15 North Orange Grove Boulevard Pasadena, CA 91103 (US)
Inventeurs : CHANG, Eng-Pi; (US).
WANG, Yao-Feng; (US)
Mandataire : DuCHEZ, Neil, A.; Renner, Otto, Boisselle & Sklar, P.L.L. 19th floor 1621 Euclid Avenue Cleveland, OH 44115 (US)
Données relatives à la priorité :
09/062,206 17.04.1998 US
Titre (EN) METHOD FOR SELECTING A SUBSTRATE INTENDED FOR USE IN A CUTTING OPERATION
(FR) PROCEDE PERMETTANT DE SELECTIONNER UN SUBSTRAT CONÇU POUR ETRE UTILISE DANS UNE OPERATION DE COUPE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method for selecting a substrate intended for use in a cutting operation. The method is particularly suitable for selecting facestock materials intended for use in making pressure-sensitive adhesive (PSA) constructions such as PSA labels. The method includes the following steps (A)-(D). Step (A) involves cutting the substrate during a first cutting step to form at least two shapes in the substrate. The shapes are positioned in spaced relationship to each other. A matrix is formed during this cutting step. The matrix is the waste substrate material around the shapes. Step (B) involves cutting the substrate with a second cutting step to form a test sample. The test sample is comprised of part of one shape, part of the next adjacent shape, and the matrix around the shape parts. Step (C) involves separating the matrix from the shape parts while measuring the force required to separate the matrix from the shape parts and measuring the displacement of the separating force. Step (D) involves determining the friction energy required to separate the matrix from the shape parts. The selection of the substrate is dependent on the friction energy.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de sélectionner un substrat destiné à être utilisé dans une opération de coupe. Ce procédé est particulièrement approprié pour sélectionner des matériaux de film pour étiquettes, utilisés dans la fabrication de structures adhésives autocollantes (PSA) telles que des étiquettes autocollantes. Le procédé comprend les étapes A à D. L'étape A consiste à couper le substrat pendant une première étape de coupe de façon à créer au moins deux formes dans ledit substrat. Les formes sont espacées l'une par rapport à l'autre. Une matrice est formée pendant l'opération de coupe. La matrice est constituée du matériau de déchet de substrat se trouvant autour des formes. L'étape B consiste à couper le substrat dans une seconde étape de coup, de façon à former un échantillon de test. L'échantillon de test est composé d'une partie d'une forme, d'une partie de la forme adjacente, et de la matrice qui se trouve autour des parties de forme. L'étape C consiste à séparer la matrice des parties de forme, tout en mesurant la force nécessaire pour séparer la matrice des parties de forme, et à mesurer le déplacement de la force de séparation. L'étape D consiste à déterminer l'énergie de friction nécessaire pour séparer la matrice des parties de forme. La sélection du substrat dépend de l'énergie de friction.
États désignés : AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)