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1. (WO1999052064) PROCEDE ET SYSTEME POUR DETECTER UN DEFAUT DANS UNE IMAGE-ECHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1999/052064    N° de la demande internationale :    PCT/US1999/007201
Date de publication : 14.10.1999 Date de dépôt international : 31.03.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    24.09.1999    
CIB :
G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : INTEGRAL VISION, INC. [US/US]; 38700 Grand River Avenue Farmington Hills, MI 48335 (US)
Inventeurs : ROBINSON, David, A.; (GB).
BLAND, Anthony, R.; (GB)
Mandataire : SYROWIK, David, R.; Brooks & Kushman 22nd floor 1000 Town Center Southfield, MI 48075 (US)
Données relatives à la priorité :
09/056,049 06.04.1998 US
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING A FLAW IN A SAMPLE IMAGE
(FR) PROCEDE ET SYSTEME POUR DETECTER UN DEFAUT DANS UNE IMAGE-ECHANTILLON
Abrégé : front page image
(EN)A method and system are described for use at a machine vision station to correctly identify flaws within a sample image by means of flexible template image comparison where the template image and a sample image suffer from a relative geometrical distortion. The method and system use the following approach: 1) generate the template image (54); 2) register the sample image to the template image (58); 3) undertake an absolute image subtraction process (60); 4) identify all regions of image difference (62); 5) create sub-images of both the template and the sample images in the region of sub-images (68); 7) undertake the absolute subtraction process on each of the sub-images (60); and 8) either identify the resulting differences as flaws (64) or go to step 5) using even smaller sub-image. The invention has particular utility in the screen printing industry as well as other industries.
(FR)On décrit un procédé et un système qu'on associe avec un poste de vision artificielle pour identifier correctement des défauts à l'intérieur d'une image-échantillon en effectuant une comparaison d'une image-modèle souple dans laquelle l'image-modèle et une image-échantillon présentent une déformation géométrique relative. Le procédé et le système de l'invention mettent en oeuvre l'approche suivante: 1) générer l'image-modèle (54); 2) mettre en correspondance l'image-échantillon et l'image-modèle (58); 3) entreprendre un processus de soustractions absolues (60); 4) identifier toutes les zones présentant une différence d'images (62); 5) créer des sous-images tant des images du modèle que des images de l'échantillon dans la zone où une erreur est décelée (68); 7) réaliser le processus de soustraction absolue sur chacune des sous-images (60) et 8) identifier les différences résultantes comme des défauts (64), ou reprendre l'étape 5 et utiliser des sous-images encore plus petites. Le procédé de l'invention trouve une application particulièrement utile dans l'industrie sérigraphique ainsi que dans d'autres industries.
États désignés : JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)