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1. (WO1999036933) PROCEDE ET SYSTEME DE MESURE DU PROFIL D'UN FAISCEAU D'ELECTRONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1999/036933    N° de la demande internationale :    PCT/CA1999/000009
Date de publication : 22.07.1999 Date de dépôt international : 13.01.1999
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    13.08.1999    
CIB :
H01J 9/42 (2006.01), H04N 17/04 (2006.01)
Déposants : IMAGE PROCESSING SYSTEMS, INC. [CA/CA]; 221 Whitehall Drive, Markham, Ontario L3R 9T1 (CA)
Inventeurs : BUKAL, Branko; (CA).
SAFAEE-RAD, Reza; (CA).
NEMETH, Karoly, G.; (CA)
Mandataire : RUSTON, David, A.; Sim & McBurney, 6th floor, 330 University Avenue, Toronto, Ontario M5G 1R7 (CA)
Données relatives à la priorité :
09/008,641 16.01.1998 US
Titre (EN) ELECTRON BEAM PROFILE MEASUREMENT METHOD AND SYSTEM
(FR) PROCEDE ET SYSTEME DE MESURE DU PROFIL D'UN FAISCEAU D'ELECTRONS
Abrégé : front page image
(EN)In a method of measuring electron beam profile in an electronic display device (16), a matrix of video dots (24) is displayed on a display screen of the electronic display device, each of the video dots being comprised of a group (27) of phosphor dots (28) illuminated by an electron beam. An image of a plurality of groups of illuminated phosphor dots forming the video dots within a field of view is then taken. The average horizontal and vertical distances of the video dots within the field of view is determined and the groups of illuminated phosphor dots forming the video dots in the field of view that are captured in the image are superimposed based on the average horizontal and vertical distances of the video dots generally to average and fill in discontinuities between phosphor dots in the groups and thereby generate an overlay image (40) of the electron beam. Cross sections of the overlay image can be approximated and at least one intensity profile of the electron beam calculated. Overlay images (40) of each color electron beam can also be captured simultaneously and a convergence error calculated.
(FR)Procédé de mesure du profil d'un faisceau d'électrons dans un dispositif d'affichage électronique (16), selon lequel une matrice de points vidéo (24) est affichée sur un écran d'affichage du dispositif d'affichage électronique, chacun des points vidéo étant constitué d'un groupe (27) de luminophores (28) illuminés par un faisceau d'électrons. Une image d'une pluralité de groupes de luminophores illuminés formant les points vidéo dans un champ de vision est ensuite prise. Les distances moyennes horizontales et verticales des points vidéo dans le champ de vision sont déterminées et les groupes de luminophores illuminés formant les points vidéo dans le champ de vision qui sont saisis dans l'image sont superposés sur la base des distances moyennes horizontales et verticales des points vidéo, généralement pour établir la moyenne des discontinuités entre les luminophores dans les groupes et remplir lesdites discontinuités, et donc produire une image en surimpression (40) du faisceau électronique. Des sections transversales de l'image en surimpression peuvent être approximées et au moins un profil d'intensité du faisceau d'électrons peut être calculé. Des images en surimpression (40) de chaque faisceau d'électrons de couleur peuvent également être saisies simultanément, ce qui permet le calcul d'une erreur de convergence.
États désignés : CA, CN, JP, KR, MX, PL, RU.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)