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1. (WO1998049575) TESTEUR DE CIRCUITS INTEGRES COMPRENANT AU MOINS UN INSTRUMENT DE TEST QUASI AUTONOME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/049575    N° de la demande internationale :    PCT/US1998/008681
Date de publication : 05.11.1998 Date de dépôt international : 29.04.1998
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    09.11.1998    
CIB :
G01R 31/30 (2006.01), G01R 31/319 (2006.01), G01R 31/3193 (2006.01)
Déposants : CREDENCE SYSTEMS CORPORATION [US/US]; 215 Fourier Avenue, Fremont, CA 94539 (US)
Inventeurs : PUN, Henry, Y.; (US)
Mandataire : SMITH-HILL, John; Smith-Hill and Bedell, P.C., Suite 104, 12670 N.W. Barnes Road, Portland, OR 97229 (US)
Données relatives à la priorité :
08/850,750 30.04.1997 US
Titre (EN) INTEGRATED CIRCUIT TESTER INCLUDING AT LEAST ONE QUASI-AUTONOMOUS TEST INSTRUMENT
(FR) TESTEUR DE CIRCUITS INTEGRES COMPRENANT AU MOINS UN INSTRUMENT DE TEST QUASI AUTONOME
Abrégé : front page image
(EN)An integrated circuit tester includes a quasi-autonomous test instrument for performing an acquisition task. The test instrument includes a state machine (54), a command stack (78) for storing commands which specify parameters of the acquisition task, an acquisition device having at least one terminal for connection to a pin of the DUT for acquiring a value of a variable from the DUT in accordance with the defined parameters of the acquisition task, and an acquisition memory (76) for temporarily storing acquired values and making the acquired values available after the test. The state machine (54) is responsive to an externally supplied trigger to initiate performance of the acquisition task under control of a clock signal by reading a command from the command stack (78) and to perform the acquisition task in accordance with the parameters specified in the command.
(FR)La présente invention concerne un testeur de circuits intégrés comprenant un instrument de test quasi autonome, destiné à exécuter une tâche d'acquisition de valeurs. L'instrument de test comprend un automate fini (54), une pile de commandes (78) destinée à stocker des commandes qui spécifient des paramètres de la tâche d'acquisition, un dispositif d'acquisition comprenant au moins un terminal relié à une broche du dispositif à tester (DUT) de façon à acquérir une valeur d'une variable à partir du DUT conformément aux paramètres définis de la tâche d'acquisition, et une mémoire d'acquisition (76) servant à stocker temporairement les valeurs acquises et à les rendre disponibles après le test. L'automate fini (54) correspond à un déclencheur alimenté extérieurement de façon à lancer la tâche d'acquisition, sous la commande d'un signal d'horloge, en lisant une commande de la pile de commandes (78), et à exécuter la tâche d'acquisition conformément aux paramètres spécifiés dans la commande.
États désignés : JP, KR.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)