WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO1998049565) TESTEUR DE CIRCUITS INTEGRES COMPENSATION DU COURANT DE FUITE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/049565    N° de la demande internationale :    PCT/US1998/008682
Date de publication : 05.11.1998 Date de dépôt international : 29.04.1998
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    09.11.1998    
CIB :
G01R 31/30 (2006.01), G01R 31/319 (2006.01)
Déposants : CREDENCE SYSTEMS CORPORATION [US/US]; 215 Fourier Avenue, Fremont, CA 94539 (US)
Inventeurs : CURRIN, Jeffrey, D.; (US).
PUN, Henry, Y.; (US)
Mandataire : SMITH-HILL, John; Smith-Hill and Bedell, P.C., Suite 104, 12670 NW Barnes Road, Portland, OR 97229 (US)
Données relatives à la priorité :
08/846,776 30.04.1997 US
Titre (EN) INTEGRATED CIRCUIT TESTER WITH COMPENSATION FOR LEAKAGE CURRENT
(FR) TESTEUR DE CIRCUITS INTEGRES COMPENSATION DU COURANT DE FUITE
Abrégé : front page image
(EN)In an integrated circuit tester module (16), pin electronics circuitry (20) supplies leakage current to a circuit node which is connected to a signal pin (2) of a device under test (6). The leakage current is compensated by connecting the circuit node to a voltage source (VDD) at a first potential level, supplying current (26) to the circuit node from a second potential level, and measuring current supplied to the circuit node from the voltage source. The second potential level is selectively varied in a manner such as to reduce the current supplied from the voltage source substantially to zero. The circuit node is then disconnected from the voltage source.
(FR)L'invention concerne un module testeur de circuits intégrés (16) dans lequel un circuit électronique de broche (20) fourni un courant de fuite à un point de circuit connecté à une broche de signal d'un dispositif en cours de vérification. On compense le courant de fuite en connectant le point de circuit à une source de tension, à un premier niveau de potentiel, en fournissant du courant au point de circuit à partir d'un second niveau de potentiel et en mesurant le courant fourni au point de circuit à partir de la source de tension. On fait varier, de manière sélective, le second niveau de potentiel de manière à ramener le courant fourni, depuis la source de tension, sensiblement à zéro. On déconnecte ainsi le point de circuit de la source de tension.
États désignés : JP, KR.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)