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1. (WO1998042039) ACCUMULATEUR SODIUM-SOUFRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/042039    N° de la demande internationale :    PCT/JP1997/000839
Date de publication : 24.09.1998 Date de dépôt international : 17.03.1997
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    18.04.1997    
CIB :
H01M 10/39 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6, Kanda Surugadai 4-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 101 (JP) (Tous Sauf US).
SATO, Yoshimi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
USAMI, Saburo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MIYOSHI, Tadahiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HATO, Hisamitsu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SATO, Yoshimi; (JP).
USAMI, Saburo; (JP).
MIYOSHI, Tadahiko; (JP).
HATO, Hisamitsu; (JP)
Mandataire : OGAWA, Katsuo; Hitachi, Ltd., 5-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SODIUM-SULFUR CELL
(FR) ACCUMULATEUR SODIUM-SOUFRE
Abrégé : front page image
(EN)The reliability of a sodium-sulfur cell system is improved by always monitoring the damage of the junction between the cathode cap of a sodium-sulfur cell and the $g(a)-alumina of the insulating ring of the cell by sodium and evaluating the remaining life of the cell.
(FR)Afin d'améliorer la fiabilité d'un système d'accumulateur sodium-soufre, on surveille en permanence la détérioration par le sodium de la jonction entre son bouchon cathodique et l'alumine $g(a) de son joint isolant, et on évalue la durée de vie qui lui reste.
États désignés : CN, JP, KR, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)