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1. (WO1998039637) DISPOSITIF POUR ANALYSER DES ECHANTILLONS GAZEUX
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/039637    N° de la demande internationale :    PCT/AT1998/000047
Date de publication : 11.09.1998 Date de dépôt international : 03.03.1998
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    28.09.1998    
CIB :
G01N 21/73 (2006.01)
Déposants : PLATZER, Bernhard [AT/AT]; (AT).
KNAPP, Günter [AT/AT]; (AT) (US Seulement)
Inventeurs : PLATZER, Bernhard; (AT).
KNAPP, Günter; (AT)
Mandataire : CUNOW, Gerda; Miksovsky & Pollhammer OEG, Währingerstrasse 3, A-1096 Wien (AT)
Données relatives à la priorité :
A 367/97 04.03.1997 AT
Titre (DE) VORRICHTUNG ZUM ANALYSIEREN GASFÖRMIGER PROBEN
(EN) DEVICE FOR ANALYSING GASEOUS SAMPLES
(FR) DISPOSITIF POUR ANALYSER DES ECHANTILLONS GAZEUX
Abrégé : front page image
(DE)Bei einer Vorrichtung zum Analysieren gasförmiger Proben, umfassend eine Einrichtung (2) zur Erzeugung eines Plasmas, eine Zuführeinrichtung (7) für die zu analysierende Probe und wenigstens eine Detektoreinheit (4), welche insbesondere wenigstens ein Interferenzfilter, eine Linsenanordnung und einen Photodetektor zur Erfassung einer von der zu analysierenden Probe emittierten Strahlung, insbesondere Atomemission oder Molekülemission, aufweist, ist vorgesehen, daß die Einrichtung (2) zur Erzeugung des Plasmas von zwei in Abstand parallel voneinander angeordneten, insbesondere ring- bzw. scheibenförmigen Elektroden mit jeweils einer im wesentlichen zentrischen, insbesondere kreisförmigen, Durchtrittsöffnung und einem zwischen den Elektroden angeordneten Isolator mit insbesondere kreisförmiger Durchtrittsöffnung zur Begrenzung des Plasmas gebildet ist und daß zwischen der Einrichtung (2) zur Erzeugung des Plasmas und der Detektoreinheit (4) eine optische Einheit (3), insbesondere eine Kollimatorlinse, zur Erzeugung eines Parallelstrahlbündels (9) vorgesehen ist.
(EN)The invention relates to a device for analyzing gaseous samples, comprising a device (2) for generating a plasma, a feeding device (7) for the sample to be analyzed and at least one detector unit (4) which in particular comprises at least one interference filter, a lens arrangement and a photodetector for detecting radiation, especially atomic emission or molecular emission, emitted by the sample to be analyzed. According to the invention, the device (2) for generating the plasma is made up of two particularly ring- or disk-shaped parallel interspaced electrodes, wherein each electrode has a substantially centrical especially circular through-opening, and an isolator positioned between said electrodes, said isolator having a particularly circular through-opening for confining the plasma. In addition, the invention provides for an optical unit (3), especially a collimator lens, to be placed between the device (2) for generating the plasma and the detector unit (4) with a view to generating a parallel ray beam (9).
(FR)L'invention concerne un dispositif pour analyser des échantillons gazeux, comprenant une unité (2) pour produire un plasma, une unité d'acheminement (7) pour les échantillons à analyser et au moins une unité de détection (4) qui présente en particulier au moins un filtre interférentiel, un groupe de lentilles et un photodétecteur pour détecter un rayon émis par l'échantillon à analyser, notamment une émission atomique ou moléculaire. Selon l'invention, il est prévu que l'unité (2) pour produire le plasma soit formée par deux électrodes, en particulier annulaires ou en forme de disque, placées parallèlement à distance l'une de l'autre, comportant chacune une ouverture de passage essentiellement centrale, notamment en forme de disque, et un isolateur placé entre les électrodes, comportant une ouverture de passage notamment en forme de disque, pour délimiter le plasma. De plus, il est prévu, entre l'unité de production de plasma (2) et l'unité de détection, une unité optique (3), notamment une lentille de collimation (4), pour produire un faisceau de rayons parallèles (9).
États désignés : CN, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)