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1. (WO1998038498) PROCEDE DE VERIFICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/038498    N° de la demande internationale :    PCT/US1998/001803
Date de publication : 03.09.1998 Date de dépôt international : 29.01.1998
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    22.09.1998    
CIB :
G01N 21/88 (2006.01), G01N 21/956 (2006.01), H05K 13/08 (2006.01)
Déposants : ACUITY IMAGING LLC [US/US]; 9 Townsend West, Nashua, NH 03063 (US) (Tous Sauf US).
KING, Steven, Joseph [--/US]; (US) (US Seulement).
LUDLOW, Jonathan, Edmund [--/US]; (US) (US Seulement).
SCHURR, George [--/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : KING, Steven, Joseph; (US).
LUDLOW, Jonathan, Edmund; (US).
SCHURR, George; (US)
Mandataire : BOURQUE, Daniel, J.; Law Offices of Daniel J. Bourque, P.A., Suite 303, 835 Hanover Street, Manchester, NH 03104 (US)
Données relatives à la priorité :
08/807,397 26.02.1997 US
08/824,173 26.03.1997 US
Titre (EN) INSPECTION METHOD
(FR) PROCEDE DE VERIFICATION
Abrégé : front page image
(EN)An inspection system (10) and method use a ring illumination apparatus (20) to illuminate one or more reflective elements (12), such as solder balls on an electronic component (14) or other protruding surfaces or objects. The ring illumination apparatus (20) includes a substantially ring-shaped light source (24) that provides a substantially even illumination across the one or more reflective elements (12). An illumination detection device (30) detects light beams (32) reflecting off of the illuminated reflective elements (12) for forming a reflected image. A method of processing the reflected image includes locating one or more points on each reflected image element (110) representing an illuminated reflective element. The points on the reflected image elements are used to locate the pattern of the reflected image elements and/or to fit an outline (120) around each image element corresponding to a known percentage of the true dimensions of each solder ball or other reflective element. The inspection system and method thereby determine various characteristics (130) such as the absence/presence, location, pitch, size and shape of each reflective element.
(FR)L'invention porte sur un système de vérification (10) et son procédé d'utilisation recourant à un appareil circulaire (20) d'éclairage éclairant un ou plusieurs éléments réfléchissants (12) tels que des billes de soudure placées sur un composant électronique (14) ou toute autre surface ou objets saillants. Ledit appareil (20) comporte une source lumineuse sensiblement circulaire (24) produisant un éclairage sensiblement régulier en passant par un ou plusieurs éléments réfléchissants (12). Un détecteur (30) détecte les faisceaux lumineux (32) renvoyés par les éléments réfléchissants (12) éclairés de manière à former une image réfléchie. L'invention porte également sur un procédé de traitement de l'image réfléchie consistant à localiser un ou plusieurs points de chacun des éléments (110) de l'image réfléchie représentant un élément réfléchissant éclairé. Les points des éléments de l'image réfléchie servent à localiser le motif que forment lesdits éléments et/ou à placer autour de chaque élément de l'image un contour (120) correspondant à un pourcentage connu des dimensions réelles de chacune des billes de soudure ou des autres éléments réfléchissant. Le système de vérification et le procédé associé permettent de connaître certaines caractéristiques (130) telles que l'absence ou la présence, la position, le pas, la taille ou la forme de chacun des éléments réfléchissants.
États désignés : AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, GH, GM, GW, HU, ID, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN, YU, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)