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1. (WO1998034093) DISPOSITIF POUR MESURER LES PARAMETRES DE DEFORMATION D'UN ELEMENT SENSIBLEMENT CYLINDRIQUE DE PRATIQUEMENT N'IMPORTE QUELLE DIMENSION

Pub. No.:    WO/1998/034093    International Application No.:    PCT/US1998/001641
Publication Date: 6 août 1998 International Filing Date: 28 janv. 1998
IPC: G01L 1/22
G01L 3/10
G01L 5/00
Applicants: LIBERTY TECHNOLOGIES, INC.
Inventors: LEON, Robert, L.
Title: DISPOSITIF POUR MESURER LES PARAMETRES DE DEFORMATION D'UN ELEMENT SENSIBLEMENT CYLINDRIQUE DE PRATIQUEMENT N'IMPORTE QUELLE DIMENSION
Abstract:
Dispositif pour mesurer les paramètres de déformation d'une tige, d'un arbre ou d'un autre élément cylindrique de pratiquement n'importe quel taille ou diamètre. Ce dispositif comprend une paire de supports (10) flexibles, dont chacun porte un substrat (30) sur lequel est disposée au moins une jauge de déformation (32). Chaque substrat est collé sur l'élément cylindrique selon une position d'alignement prédéterminée par rapport à l'autre substrat, pour permettre de mesurer la déformation de l'élément cylindrique. Les supports comportent chacun au moins un élément de guidage. Une bande (52) de tension flexible est introduite dans l'élément de guidage sur chacun des supports pour placer et retenir les substrats dans les positions prédéterminées. La bande est resserrée pour appliquer une pression sur les substrats pendant le collage de manière à ce que les substrats soient correctement collés sur l'élément cylindrique et à obtenir un transfert de contraintes adéquat. Dans un autre mode de réalisation, on utilise un support unique doté d'un seul substrat pour jauge de déformation.