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1. (WO1998025152) BANC D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/025152    N° de la demande internationale :    PCT/IE1997/000081
Date de publication : 11.06.1998 Date de dépôt international : 05.12.1997
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    03.07.1998    
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : A.T.E. SERVICES LIMITED [IE/IE]; 41 Fitzwilliam Square, Dublin 2 (IE) (Tous Sauf US).
NEARY, James, Joseph [IE/IE]; (IE) (US Seulement)
Inventeurs : NEARY, James, Joseph; (IE)
Mandataire : F.F. GORMAN & CO.; 54 Merrion Square, Dublin 2 (IE)
Données relatives à la priorité :
S960858 05.12.1996 IE
S970812 17.11.1997 IE
Titre (EN) A TEST FIXTURE
(FR) BANC D'ESSAI
Abrégé : front page image
(EN)A test fixture (1) for connecting a mother board (2) to test equipment for testing the mother board (2) connected to a reference daughter board (3). The test fixture (1) comprises a first platform (35) for carrying the mother board (2) which is slidably carried on a base box (15) between a loading position and a test position. A main carrier housing (16) is moveable in the direction of the arrow A from an inoperative to a test position. A first connector (63) extends downwardly from a sub-base (27) of the carrier housing (16) for engaging corresponding connectors (10) of the mother board (2) when the carrier housing (16) is in the test position. The daughter board (3) is carried on a second platform (40) in the carrier housing (16) and is moveable in the direction of the arrow E from an inoperative to a test position for engaging a connector socket (11) on the daughter board (3) with corresponding tab connectors (5) of the mother board (2). A carrier arm (65) in the carrier housing (16), which carries second connectors (64) is moveable in the direction of the arrow G from an inoperative position to a test position for engaging the second connector (64) with corresponding connectors (8) of the mother board (2).
(FR)Cette invention concerne un banc d'essai (1) permettant de connecter une carte mère (2) à des équipements de test, et permettant de tester ladite carte mère (2) qui est connecté à une carte fille (3) de référence. Ce banc d'essai (1) comprend une première plate-forme (35) supportant la carte-mère (2), laquelle est montée coulissante sur un boîtier de base (15) de manière à pouvoir passer d'une position de chargement en une position de test. Un boîtier de support principal (16) peut se déplacer dans le sens de la flèche (A) et passer d'une position de non-fonctionnement en une position de test. Un premier connecteur (63) dépasser vers le bas d'une sous-base (27) du boîtier de support (16) de manière è entrer en contact avec les connecteurs (10) correspondants de la carte mère (2) lorsque ledit boîtier de support (16) se trouve en position de test. La carte fille (3), qui est supportée par une seconde plate-forme (40) située dans le boîtier de support (16), peut se déplacer dans le sens de la flèche (E). Elle peut ainsi passer d'une position de non-fonctionnment en une position de test, ceci de manière à faire entrer la prise (11) pour connecteurs sur la carte fille (3) en contact avec les connecteurs correspondants et de type languettes (5) de la carte mère (2). Un bras de support (65), qui est situé dans le boîtier de support (16) et supporte des seconds connecteurs (64), peut se déplacer dans le sens de la flèche (G) et passer d'une positon de non-fonctionnement en une position de test. Le second connecteur (64) va ainsi entrer en contact avec les connecteurs correspondants (8) de la carte mère (2).
États désignés : AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, GH, HU, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, KE, LS, MW, SD, SZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)