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1. (WO1998025150) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR MESURER LA CONSTANTE PIEZO-ELECTRIQUE D'UN MATERIAU PIEZO-ELECTRIQUE A COUCHE MINCE

Pub. No.:    WO/1998/025150    International Application No.:    PCT/KR1996/000235
Publication Date: 11 juin 1998 International Filing Date: 6 déc. 1996
IPC: G01R 29/22
Applicants: DAEWOO ELECTRONICS CO., LTD.
Inventors: KIM, Dong, Guk
Title: PROCEDE ET DISPOSITIF POUR MESURER LA CONSTANTE PIEZO-ELECTRIQUE D'UN MATERIAU PIEZO-ELECTRIQUE A COUCHE MINCE
Abstract:
L'invention concerne un procédé permettant de mesurer une constante piézo-électrique et un dispositif permettant de mettre en oeuvre ledit procédé. On positionne un matériau piézo-électrique sur un élément support et une sonde de pression au-dessus du matériau. Un élément presseur applique une pression sur le matériau par l'intermédiaire de la sonde de pression. On ouvre une vanne principale. On règle une valve d'évacuation de façon à modifier la pression, tout en maintenant la vanne principale ouverte. On mesure la charge produite par le matériau au moyen d'un élément de mesure de la charge. On enregistre les mesures de la charge et de la pression dans un élément informatique, qui calcule la constante piézo-électrique à partir des valeurs mesurées. Il est possible de mesurer la constante piézo-électrique en utilisant une méthode de pression pneumatique et en appliquant une force uniforme sur toute la surface du matériau, quelle que soit sa topologie, sans provoquer ni court-circuit ni déformation plastique.