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1. (WO1998024536) MULTIPLICATEUR D'ELECTRONS A HAUTE PRESSION POUR DETECTION D'IONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/024536    N° de la demande internationale :    PCT/US1997/022143
Date de publication : 11.06.1998 Date de dépôt international : 05.12.1997
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    29.05.1998    
CIB :
H01J 49/02 (2006.01)
Déposants : MKS INSTRUMENTS, INC. [US/US]; Six Shattuck Road, Andover, MA 01810 (US)
Inventeurs : PENN, Stephen, M.; (US).
MCALLISTER, C., Bruce; (US)
Mandataire : KUSMER, Toby, H.; Lappin & Kusmer LLP, 200 State Street, Boston, MA 02109 (US)
Données relatives à la priorité :
08/760,973 05.12.1996 US
Titre (EN) HIGH PRESSURE, ELECTRON MULTIPLIER FOR ION DETECTION
(FR) MULTIPLICATEUR D'ELECTRONS A HAUTE PRESSION POUR DETECTION D'IONS
Abrégé : front page image
(EN)Ions in a chamber or space are detected using an electron multiplier (10) operating at relatively low gain. The electron multiplier is placed in communication with the chamber, such as a chamber of a mass spectrometer (305), such that ions from the chamber enter the electron multiplier. A bias voltage (102, 302) applied to the multiplier sets the gain of the multiplier. By setting the gain at a relatively low value, the gain of the multiplier remains independent of chamber pressure, such that an accurate pressure measurement is obtained without calibration at a particular pressure or as a function of pressure.
(FR)On détecte des ions dans une enceinte ou dans un espace à l'aide d'un multiplicateur d'électrons (10) fonctionnant avec un gain relativement faible. Ce multiplicateur d'électrons est mis en communication avec l'enceinte, une enceinte de spectromètre de masse par exemple (305), de façon à ce que les ions se trouvant dans l'enceinte pénètrent dans le multiplicateur d'électrons. Une tension de polarisation (102, 103) appliquée au multiplicateur fixe le gain du multiplicateur. En fixant le gain à une valeur relativement basse, celui-ci reste indépendant de la pression de l'enceinte, de telle sorte que l'on obtient une mesure de pression précise sans étalonnage à une pression particulière ou en fonction de la pression.
États désignés : JP, KR.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)