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1. (WO1998024063) SYSTEME DE TOMOGRAPHIE ASSISTEE PAR ORDINATEUR A PLANS IMAGES OBLIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/024063    N° de la demande internationale :    PCT/IL1997/000038
Date de publication : 04.06.1998 Date de dépôt international : 29.01.1997
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    21.06.1998    
CIB :
G06T 11/00 (2006.01)
Déposants : PICKER MEDICAL SYSTEMS, LTD. [IL/IL]; P.O. Box 325, 31004 Haifa (IL) (Tous Sauf US).
FREUNDLICH, David [IL/IL]; (IL) (US Seulement).
ZASLAVSKY, Alex [IL/IL]; (IL) (US Seulement).
RUIMI, David [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : FREUNDLICH, David; (IL).
ZASLAVSKY, Alex; (IL).
RUIMI, David; (IL)
Mandataire : FENSTER, Paul; Fenster & Company, P.O. Box 2741, 49127 Petach Tikva (IL)
Données relatives à la priorité :
119714 28.11.1996 IL
Titre (EN) CT SYSTEMS WITH OBLIQUE IMAGE PLANES
(FR) SYSTEME DE TOMOGRAPHIE ASSISTEE PAR ORDINATEUR A PLANS IMAGES OBLIQUES
Abrégé : front page image
(EN)A method for reconstructing one or more non-axial image slices in a CT scanner, comprising: acquiring X-ray attenuation data over an axial range; and processing the attenuation data to determine CT values at a plurality of points along one or more surfaces corresponding respectively to each of one or more non-axial image slices, wherein processing the attenuation data comprises back-projecting the data directly to the plurality of points along each of the one or more surfaces.
(FR)La présente invention concerne un procédé de reconstruction d'une ou plusieurs coupes dans un tomodensitomètre. Ce procédé consiste à recueillir des données d'atténuation du rayonnement X selon une épaisseur axiale de coupe et à traiter ces données d'atténuation de façon à déterminer des valeurs de tomodensitométrie en une pluralité de points répartis sur un ou plusieurs plans correspondant chacun à une ou plusieurs coupes non axiales. En l'occurrence, le traitement des données d'atténuation nécessite une rétroprojection des données directement vers la pluralité de points répartis sur le ou les plans considérés.
États désignés : JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)