WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO1998002763) SYSTEME DE TOMOGRAPHIE A DISPERSION LATERALE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/002763    N° de la demande internationale :    PCT/US1997/011866
Date de publication : 22.01.1998 Date de dépôt international : 08.07.1997
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    11.02.1998    
CIB :
G01V 5/00 (2006.01)
Déposants : AMERICAN SCIENCE AND ENGINEERING, INC. [US/US]; 829 Middlesex Turnpike, Billerica, MA 01821 (US)
Inventeurs : ROTHSCHILD, Peter; (US).
GRODZINS, Lee; (US)
Mandataire : SUNSTEIN, Bruce, D.; Bromberg and Sunstein LLP, 125 Summer Street, Boston, MA 02110-1618 (US)
Données relatives à la priorité :
60/021,267 12.07.1996 US
Titre (EN) SIDE SCATTER TOMOGRAPHY SYSTEM
(FR) SYSTEME DE TOMOGRAPHIE A DISPERSION LATERALE
Abrégé : front page image
(EN)An X-ray tomography system measures X-ray side-scattered (18) by material (25) concealed within an enveloping surface (14). One or more X-ray beams (10, 12) are incident on the enveloping surface and scattered onto collimated detectors (24) disposed in arrays parallel to the incident X-ray beams. By varying the relative orientation of the enveloping surface with respect to the X-ray beams and measuring the X-ray side-scattered by the material concealed within the enveloping surface, the shape, density, position and composition of the contents of the enveloping surface may be mapped.
(FR)Un système de tomographie à rayons X mesure les rayons X dipersés latéralement (18) par la matière (25) cachée dans une surface enveloppante (14). Un ou plusieurs faisceaux de rayons X (10, 12) sont incidents sur la surface enveloppante et sont dispersés sur des détecteurs collimatés (24) disposés en réseaux parallèles aux faisceaux à rayons X incidents. En faisant varier l'orientation relative de la surface enveloppante par rapport aux faisceaux à rayons X et en mesurant les rayons X dispersés latéralement par la matière cachée dans la surface enveloppante, il est possible de cartographier la forme, la densité, la position et la composition de la teneur de la surface enveloppante.
États désignés : AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, HU, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (GH, KE, LS, MW, SD, SZ, UG, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)