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1. (WO1998000944) APPAREIL ET PROCEDE DE DETECTION DE TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/000944    N° de la demande internationale :    PCT/US1997/009221
Date de publication : 08.01.1998 Date de dépôt international : 27.05.1997
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    19.01.1998    
CIB :
G01R 31/317 (2006.01), H04M 3/00 (2006.01), H04M 3/30 (2006.01)
Déposants : ADVANCED MICRO DEVICES, INC. [US/US]; 5204 East Ben White Boulevard, Mail Stop 562, Austin, TX 78741 (US)
Inventeurs : RAMIREZ, Sergio, R.; (US)
Mandataire : RILEY, Louis, A.; Advanced Micro Devices, Inc., 5204 East Ben White Boulevard, M/S 562, Austin, TX 78741 (US).
PICKER, Madeline, M.; Brookes and Martin, High Holborn House, 52/54 High Holborn, London WC1V 6SE (GB)
Données relatives à la priorité :
08/675,297 01.07.1996 US
Titre (EN) TEST DETECTION APPARATUS AND METHOD
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE DETECTION DE TEST
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus for setting a device into a test mode. The apparatus has a first input port for receiving a fixed, constant signal during a normal mode of the device, and for receiving a non-fixed, clocked signal so as to set the device into a test mode. The apparatus also has a second input port for receiving a non-fixed, clocked signal during the normal mode and for receiving a fixed, constant signal so as to set the device into the test mode. When both the first input port receives the non-fixed, clocked signal and the second input port receives the fixed, constant signal for a predetermined amount of time, the device is placed into the test mode.
(FR)Appareil destiné à placer un dispositif en mode test. L'appareil présente un premier port d'entrée destiné à recevoir un signal fixe constant pendant un mode normal du dispositif, et à recevoir un signal non fixe synchronisé de manière à placer le dispositif dans un mode test. L'appareil comprend également un second port d'entrée destiné à recevoir un signal non fixe synchronisé pendant le mode normal et à recevoir un signal fixe constant afin de placer le dispositif en mode test. Lorsque à la fois le premier port d'entrée reçoit le signal non fixe synchronisé et le second port d'entrée reçoit le signal fixe constant pendant une durée prédéterminée, le dispositif est placé dans le mode test.
États désignés : JP, KR.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)