WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO1998000698) PROCEDE ET APPAREIL D'EVALUATION DES PROPRIETES THERMOMECANIQUES DE MATERIAUX ET DE REVETEMENTS EN COUCHES TRIES EN FONCTION DE LEUR PROFIL DE PROFONDEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1998/000698    N° de la demande internationale :    PCT/US1997/011689
Date de publication : 08.01.1998 Date de dépôt international : 30.06.1997
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    28.01.1998    
CIB :
G01N 3/20 (2006.01)
Déposants : MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY [US/US]; 77 Massachusetts Avenue, Cambridge, MA 02139 (US)
Inventeurs : FINOT, Marc; (FR).
KESLER, Olivera; (US).
SURESH, Subra; (US)
Mandataire : OYER, Timothy, J.; Wolf, Greenfield & Sacks, P.C., 600 Atlantic Avenue, Boston, MA 02210 (US)
Données relatives à la priorité :
08/675,121 03.07.1996 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR THE EVALUATION OF A DEPTH PROFILE OF THERMO-MECHANICAL PROPERTIES OF LAYERED AND GRADED MATERIALS AND COATINGS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL D'EVALUATION DES PROPRIETES THERMOMECANIQUES DE MATERIAUX ET DE REVETEMENTS EN COUCHES TRIES EN FONCTION DE LEUR PROFIL DE PROFONDEUR
Abrégé : front page image
(EN)A technique for determining properties such as Young's modulus, coefficient of thermal expansion, and residual stress of individual layers within a multi-layered sample is presented. The technique involves preparation of a series of samples, each including one additional layer relative to the preceding sample. By comparison of each sample to a preceding sample, properties of the topmost layer can be determined, and residual stress at any depth in each sample, resulting from deposition of the top layer, can be determined.
(FR)La présente invention porte sur une technique permettant de déterminer des propriétés telles le module de Young, le coefficient de dilatation et la contrainte résiduelle de chacune des couches renfermées dans un échantillon à couches multiples. La technique consiste à mettre au point une série d'échantillons, chaque échantillon contenant une couche de plus que l'échantillon précédent. En comparant chaque échantillon avec l'échantillon précédent, on détermine les propriétés de la couche la plus élevée ainsi que, pour chaque échantillon et à n'importe quelle profondeur, la contrainte résiduelle résultant du dépôt de la couche supérieure.
États désignés : AU, CA, JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)